一种有机液储氢在线氢含量检测装置及方法

    公开(公告)号:CN119574376A

    公开(公告)日:2025-03-07

    申请号:CN202411751748.5

    申请日:2024-12-02

    Inventor: 金源鸿 成波

    Abstract: 本发明公开了一种有机液储氢在线氢含量检测装置及方法。包括检测箱,所述检测箱内设置有密封杯,所述检测箱上设置有进样管,所述进样管上设置有定量辊,所述定量辊上开设有若干定量槽,所述检测箱内设置有控温组件,所述密封杯下方设置有称重组件,所述密封杯的下部设置有测定管,所述检测箱内设置有折光仪,所述检测箱内还设置有传输模块。本发明的优点在于,利用两组数据建立25℃~30℃中各个稳定下的标准曲线,使每个温度下均能有标准数据可查。再利用检测装置对试样进行检测,根据检测温度对照相应温度下的标准曲线,得出可用氢气量,省去不同温度下相互校正的的过程,将该过程所产生的误差抹除,使检测数据更加精准。

    一种单光纤原位折射率测定装置及其应用

    公开(公告)号:CN119044116B

    公开(公告)日:2025-03-07

    申请号:CN202411559514.0

    申请日:2024-11-04

    Inventor: 孙鹤

    Abstract: 本发明提供的一种单光纤原位折射率测定装置及其应用,属于光感测量技术,其包括光纤分路系统,其通过光路耦合分别连接探测光纤、光源光纤和接收光纤;所述光源光纤,其一端设置有光源,用于将光源发出的光信号传输至所述光纤分路系统;所述探测光纤,通过光纤端面将光信号从光纤分路系统传输至待测样品表面,并将样品反射的光信号回传至光纤分路系统;所述接收光纤,其一端连接有检测器,用于接收来自述光纤分路系统的反射光信号,并将其传输至检测器进行测量和分析。该装置无需复杂光学元件和高成本检测器,制造成本低同时装配和调试过程简单。

    采用OCT检测透明玻璃内部成分不均匀方法和系统

    公开(公告)号:CN119534488A

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202510003227.X

    申请日:2025-01-02

    Applicant: 燕山大学

    Inventor: 许世清 刘世民

    Abstract: 本发明公开一种采用OCT检测透明玻璃内部成分不均匀方法和系统,包括:步骤S1、通过OCT得到玻璃内部的三维图像;步骤S2、对玻璃内部的三维图像进行断层分析,根据成分不均匀导致的折射率变化,检测玻璃内部的缺陷。采用本发明的技术方案,可以精确定位并识别玻璃内部的成分不均匀、气泡、微裂纹缺陷,有助于提升透明玻璃产品的质量控制水平。

    基于单点探测的低温红外材料折射率测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN115266644B

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202210867937.3

    申请日:2022-07-22

    Abstract: 本发明公开了基于单点探测的低温红外材料折射率测量装置及测量方法,涉及光学测量技术领域,其技术方案要点是:包括:红外光源组件,输出红外光;旋转台,置于真空恒温器中,并调整测试棱镜的旋转角度;分光镜,红外光穿过分光镜后传输至测试棱镜,且分光镜对经测试棱镜背面反射膜反射后原路返回的光线反射输出;瞄准装置,通过单点探测器获取随测试棱镜的旋转角度变化的信号幅值;处理器,用于依据信号幅值和旋转台的旋转角度,以加权平均方法计算得到测试棱镜在调整旋转角度后的偏向角度,并根据偏向角度确定当前温度下的折射率。本发明无需自准直光管进行对照处理,测量过程的光路相对简单,测量精度和效果较高,应用成本较低。

    一种寡核苷酸偶联原位监测系统及检测方法

    公开(公告)号:CN119492709A

    公开(公告)日:2025-02-21

    申请号:CN202411508964.7

    申请日:2024-10-28

    Applicant: 天津大学

    Abstract: 本发明提供了一种寡核苷酸偶联原位监测系统及检测方法,监测系统中沿光束方向依次设置有红光LED、物镜、光阑、双胶合透镜、偏振片、第一柱面透镜、柱面棱镜、流通池芯片、第二柱面透镜、第一成像透镜、第二成像透镜和CMOS相机,入射光路与反射光路成角度设置,流通池芯片通过耦合液与柱面棱镜进行折射率匹配,通过分析CMOS相机采集反射光斑,实时获取检测区域对应光谱共振角变化,进而表征检测区域的偶联物变化,所述监测系统利用表面等离子共振效应灵敏地分析敏感膜层表面的物质结合情况,实现寡核苷酸偶联过程的原位表征以及多通道、阵列化的实时检测。

    一种基于锂离子电极多涂层的太赫兹测厚方法及装置

    公开(公告)号:CN119468937A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202411485764.4

    申请日:2024-10-23

    Abstract: 本发明公开了一种基于锂离子电极多涂层的太赫兹测厚方法及装置,涉及太赫兹技术领域,该测厚装置包括:发射探头、接收探头和弧形滑轨,所述发射探头和所述接收探头设置在所述弧形滑轨上。本发明所述的一种基于锂离子电极多涂层的太赫兹测厚方法及装置,利用反射式太赫兹时域光谱检测系统,同时对待测量试样交界处进行测量,同时测量太赫兹波穿过空气、穿过被检测的涂层和涂层表面反射的回波信号,作为太赫兹时域光谱的参考信号可计算得出锂离子电极涂层和材料折射率,无需已知材料折射率,无需建立复杂的测厚算法,可同时测量材料厚度和折射率,检测方法简单,避免了由于多次测量进行回波信号提取时的位置不一致性带来的测量误差。

    一种水性聚氨酯薄膜厚度检测方法及系统

    公开(公告)号:CN119043192B

    公开(公告)日:2025-01-28

    申请号:CN202411514455.5

    申请日:2024-10-29

    Abstract: 本申请涉及薄膜厚度测量技术领域,具体涉及一种水性聚氨酯薄膜厚度检测方法及系统,该方法包括:采集水性聚氨酯薄膜上的每个薄膜样品在各相移状态下的干涉图像;将薄膜样品上目标点在所有干涉图像上的与其邻域内像素的灰度分布差异情况,得到目标点的干涉条纹强度;对所有相移状态下的干涉图像进行相位测量,得到目标点的相位值;根据目标点在局部区域内的相位变化程度和相位差异,得到干涉相位变化值;综合所有位置点的干涉相位变化值和干涉条纹强度的聚类情况,提取上下表面的零级条纹区域,计算薄膜样品的厚度;综合所有薄膜样品厚度的数值分布情况,得到水性聚氨酯薄膜的厚度。本申请可提高水性聚氨酯薄膜厚度的测量精度。

    超细缺陷自动检测模块及方法和不良自动检查系统及方法

    公开(公告)号:CN119310084A

    公开(公告)日:2025-01-14

    申请号:CN202410904096.8

    申请日:2024-07-08

    Abstract: 提供超薄型玻璃的Pt衍生超细缺陷自动检测模块及方法和利用其的超薄型玻璃的外观不良自动检查系统及方法。外观不良自动检查系统包括:边缘检查模块,在以单元单位物理切断超薄型玻璃时检查剥落或楔形缺陷;表面检查模块,检查超薄型玻璃表面区域的划痕、裂痕或异物;相位测量光线偏转检查模块,通过相位变化测量检查超薄型玻璃表面区域的污渍或凹陷;和Pt衍生超细缺陷检查模块,检查在超薄型玻璃母基板的生产过程产生的Pt衍生超细缺陷。Pt衍生超细缺陷检查模块包括:全息复原装置;扫描装置,将全息复原装置移动到预定扫描路径;和超细缺陷判断装置,通过利用从全息复原装置得到的图像的固有摩尔图案的机器学习算法判断Pt衍生超细缺陷。

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