一种用于脉冲X、γ射线剂量测量的平板电离室

    公开(公告)号:CN109459780B

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN201811608416.6

    申请日:2018-12-26

    IPC分类号: G01T1/185

    摘要: 本发明提供了一种用于脉冲X、γ射线剂量测量的平板电离室。该电离室能够有效缩短极间距,在相同的工作电压下,次级电子能够更好的加速,使其收集速率达到微秒量级;另外该电离室采取了能量补偿措施,内壁喷涂的铝层能够有效提升电离室对低能光子的响应,使得平板电离室的能量测量下限达到了20keV;而且电离室收集极设计有保护环,对于提高电场的均匀性有显著效果。

    基于离子阱系统的强度可变的两体非局域量子测量方法

    公开(公告)号:CN116258211B

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202310201987.2

    申请日:2023-03-03

    发明人: 李涛 蒋岚

    摘要: 本发明公开了一种基于离子阱系统的强度可变的两体非局域量子测量方法,采用激光使离子内部状态以及外部运动状态相干耦合,通过激光与离子阱系统相互作用的哈密顿量推演出演化后整体量子系统的状态,将整体系统投影至任意后选择态并进行归一化得到测量后的外部运动态,确定测量之后的运动状态相对于初始基态中心位置的偏移量,基于偏移量通过仿真实现强度可变的非局域量子测量。本发明通过调控激光与离子阱系统的耦合强度和相互作用时间可实现从强测量至弱测量的转换,并通过调整离子基态波包大小改变测量强度。

    β标准场定向剂量当量率的眼晶体评估值校准方法

    公开(公告)号:CN117930316A

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202311718942.9

    申请日:2023-12-14

    IPC分类号: G01T1/185 G01T1/36 G01T7/00

    摘要: 本发明涉及β标准场定向剂量当量率的眼晶体评估值校准方法,包括如下步骤:测量β辐射场中吸收剂量率#imgabs0#及其均匀性分布;测量Sr/Y‑90β辐射场的能谱;建立Sr/Y‑90β辐射场能谱区域分布变化时,对应的吸收剂量率‑定向剂量当量率的转换系数数据库,得到β辐射场中定向剂量当量率#imgabs1#的区域分布测量结果;确定Sr/Y‑90β辐射场的定向剂量当量率#imgabs2#均匀性区域。本发明所提供的方法能够解决在BSS 2标准装置的β辐射场中测量反映人员眼晶体的定向剂量当量率H′(3)的均匀区域时,因展平过滤器长期使用后变形老化等因素,引起β辐射场中定向剂量当量率均匀区域发生变化,导致测量点处的定向剂量当量率#imgabs3#与PC端示值存在一定差异的难题。

    用于射束能量测量的方法和装置

    公开(公告)号:CN110174692B

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN201910123841.4

    申请日:2019-02-19

    IPC分类号: G01T1/16 G01T1/185

    摘要: 公开了用于射束能量测量的方法和装置。用于测量从辐射束源输出的辐射束能量的装置包括:第一射束能量传感器,其位于沿着辐射束轴线距辐射束源第一距离处;第二射束能量传感器,其位于沿着所述辐射束轴线距所述辐射束源第二距离处;以及位于所述第一传感器与第二传感器之间的能量吸收层,例如去除射束的一部分低能量成分的层或吸收至少1%射束能量的层,并且被定位成使得穿过所述第一传感器的辐射在进入所述第二传感器之前也穿过所述能量吸收层。

    一种高气压电离室信号收集装置
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117594414A

    公开(公告)日:2024-02-23

    申请号:CN202311555442.8

    申请日:2023-11-21

    发明人: 姚飞 侯鑫 曹舟 廖鹏

    摘要: 本发明公开了一种高气压电离室信号收集装置,该装置内部信号收集球体固定在外部三同轴电极上,这种结构保证了整个电极的三同轴特性,本底电流波动极小,具有极小漏电流和耦合电容,欧姆电阻稳定,电离室信号收集极输出信号本底电流波动小于1fA。外部三同轴电极中的陶瓷管采用两端可伐合金焊接固定,增加的机械强度,能承受较大的惯性。内部电极重量小于20g,可以降低由于固定连接对外部陶瓷部件的冲击。

    一种基于NFC的辐射剂量测量系统及方法

    公开(公告)号:CN117233820A

    公开(公告)日:2023-12-15

    申请号:CN202311080596.6

    申请日:2023-08-25

    发明人: 杨建 龚岚 黃秋 张洋

    IPC分类号: G01T1/02 G01T1/185

    摘要: 本发明提供了一种基于NFC的辐射剂量测量系统及方法,涉及辐射计量技术领域。该系统包括电离室、剂量仪和电离室传感器;电离室传感器含有NFC标签芯片,安装于电离室。该方法包括将电离室传感器与电离室插座连接,通过电源插座接通电源;打开电源开关,为剂量仪供电;将电离室传感器贴近NFC标签芯片感应区,与NFC读写电路自动读取NFC标签芯片所保存的电离室参数,剂量仪根据电离室参数为电离室提供工作电压;该测量系统开始测量,并将测得的电流数据进行计算处理,得到测量结果。相较于现有技术,该系统及方法在可实现电离室快速切换的前提下,具有高效安全、出错率低、使用寿命长、操作简单、自动化程度高、可离线操作等优点。

    一种微型裂变电离室故障诊断方法和系统

    公开(公告)号:CN116344083A

    公开(公告)日:2023-06-27

    申请号:CN202211581896.8

    申请日:2022-12-09

    IPC分类号: G21C17/06 G01T1/185 G01T7/00

    摘要: 本发明涉及一种微型裂变电离室故障诊断方法和系统,包括:对同一台压水堆核电机组中的微型裂变电离室进行监测,并在任意一个微型裂变电离室发生校刻系数或坪斜异常时,获取待诊断的微型裂变电离室的故障类型;若故障类型为校刻系数超标,则采用预设校刻系数诊断方法对待诊断的微型裂变电离室进行诊断;若故障类型为坪斜异常偏大或超标,则采用预设坪斜诊断方法对待诊断的微型裂变电离室进行诊断。本发明采用预设校刻系数诊断方法基于校刻系数的物理意义进行诊断,诊断依据更加充分,同时采用预设坪斜诊断方法进行诊断,解决了仅凭坪斜异常偏大或超标进行判断的依据不充分的问题,而且,本发明的诊断方法逻辑清晰,依据充分,可以实现有效的诊断。