公开(公告)号：EP2851685A1

公开(公告)日：2015-03-25

申请号：EP13790198.9

申请日：2013-05-14

申请人： Nanoentek Inc. ,  Hur, Dae Sung ,  Kim, Jae Jeong ,  Kim, Yu Rae

发明人： HUR, Dae Sung ,  KIM, Jae Jeong ,  KIM, Yu Rae

IPC分类号： G01N33/50 ,  G01N33/48

CPC分类号： G01N1/00 ,  B01L3/502715 ,  B01L3/502723 ,  B01L3/502746 ,  B01L2200/027 ,  B01L2200/0684 ,  B01L2300/0816 ,  B01L2300/089 ,  B01L2400/086 ,  G01N33/48 ,  G01N35/08 ,  G01N2001/002

摘要： The present invention relates to a sample analyzing chip. The chip can prevent upper and lower substrates of a channel from being attached to each other due to deflection on a micro channel and can solve the problem of the sample drying up within a measuring time of a target. Also, the chip can prevent bubbles from being generated in a central portion of the micro channel.

摘要翻译： 本发明涉及一种样品分析芯片。 芯片可以防止通道上的上下基板由于在微通道上的挠曲而彼此附接，并且可以在目标的测量时间内解决样品干燥的问题。 此外，芯片可以防止在微通道的中心部分产生气泡。

公开(公告)号：EP2851685A4

公开(公告)日：2016-04-27

申请号：EP13790198

申请日：2013-05-14

申请人： NANOENTEK INC ,  HUR DAE SUNG ,  KIM JAE JEONG ,  KIM YU RAE

发明人： HUR DAE SUNG ,  KIM JAE JEONG ,  KIM YU RAE

IPC分类号： G01N33/50 ,  B01L3/00 ,  G01N33/48

CPC分类号： G01N1/00 ,  B01L3/502715 ,  B01L3/502723 ,  B01L3/502746 ,  B01L2200/027 ,  B01L2200/0684 ,  B01L2300/0816 ,  B01L2300/089 ,  B01L2400/086 ,  G01N33/48 ,  G01N35/08 ,  G01N2001/002