摘要:
Die vorliegende Erfindung schafft eine Dampfzelleneinrichtung (10) für eine Sensorvorrichtung (SV), umfassend einen Grundwafer (GF), welcher zumindest eine Ausnehmung (A) umfasst, in welcher eine Probesubstanz (PS) eingefasst ist; einen oberen Kappenwafer (OKW); und einen Boden (BD), welcher die Ausnehmung (A) von einer Unterseite (US) vollständig abdeckt, wobei der Grundwafer (GF) die Ausnehmung (A) lateral vollständig umläuft und in einer ersten lateralen Raumrichtung (R1) und in einer zweiten lateralen Raumrichtung (R2), welche zu der ersten lateralen Raumrichtung (R1) senkrecht verläuft, für eine erste Strahlung (ST1) und für eine zweite Strahlung (ST2) durchlässig ist, und der Boden (BD) und der obere Kappenwafer (OKW) in einer vertikalen Raumrichtung (R3), welche senkrecht zur ersten lateralen Raumrichtung (R1) und senkrecht zur zweiten lateralen Raumrichtung (R2) verläuft, für die erste Strahlung (ST1) und für die zweite Strahlung (ST2) durchlässig ist und für eine dritte Strahlung (ST3) durchlässig sein kann. [SM(1]
摘要:
Die vorliegende Erfindung schafft eine Dampfzelleneinrichtung (10) für eine Sensorvorrichtung (SV), umfassend einen Grundwafer (GF), welcher zumindest eine Ausnehmung (A) umfasst, in welcher eine Probesubstanz (PS) eingefasst ist; einen oberen Kappenwafer (OKW); und einen Boden (BD), welcher die Ausnehmung (A) von einer Unterseite (US) vollständig abdeckt, wobei der Grundwafer (GF) die Ausnehmung (A) lateral vollständig umläuft und in einer ersten lateralen Raumrichtung (R1) und in einer zweiten lateralen Raumrichtung (R2), welche zu der ersten lateralen Raumrichtung (R1) senkrecht verläuft, für eine erste Strahlung (ST1) und für eine zweite Strahlung (ST2) durchlässig ist, und der Boden (BD) und der obere Kappenwafer (OKW) in einer vertikalen Raumrichtung (R3), welche senkrecht zur ersten lateralen Raumrichtung (R1) und senkrecht zur zweiten lateralen Raumrichtung (R2) verläuft, für die erste Strahlung (ST1) und für die zweite Strahlung (ST2) durchlässig ist und für eine dritte Strahlung (ST3) durchlässig sein kann. [SM(1]
摘要:
Die Erfindung schafft ein Verfahren zum Verbinden zweier Substrate, eine entsprechende Anordnung zweier Substrate und ein entsprechendes Substrat. Das Verfahren umfasst die Schritte: Bereitstellen eines ersten Substrats (S1) mit einer ersten Vorderseite (V1) und einer ersten Rückseite (R1) und eines zweiten Substrats (S2) mit einer zweiten Vorderseite (V2) und einer zweiten Rückseite (R2); Aufbringen einer ersten Diffusionsbarriereschicht (D1) auf die erste Vorderseite (V1) und einer zweiten Diffusionsbarriereschicht (D2) auf die zweite Vorderseite (V2); Aufbringen eines ersten Bondbereichs mit mindestens einer ersten Bondmaterialschicht auf die erste Diffusionsbarriereschicht (D1) und eines zweiten Bondbereichs mit mindestens einer zweiten Bondmaterialschicht (B21, B22) auf die zweite Diffusionsbarriereschicht (D2); Aufbringen einer ersten Oxidationsschutzschicht (O1) mindestens auf den ersten Bondbereich; Aufheizen wenigstens des ersten Substrats (S1) im vom zweiten Substrat (S2) getrennten Zustand auf eine erste Temperatur, bei der die erste Oxidationsschutzschicht (O1) in den ersten Bondbereich zum Ausbilden eines modifizierten ersten Bondbereichs (B1') zumindest teilweise eindiffundiert; anschließendes Zusammenbringen des ersten Substrats (1a) und des zweiten Substrats (1 b), so dass sich der erste modifizierte erste Bondbereich (B1') und der zweite Bondbereich (B2) gegenüberliegen; und Aufheizen des ersten und zweiten Substrats (S1; S2) im zusammengebrachten Zustand auf eine zweite Temperatur, bei der wenigstens eine Komponente des ersten oder zweiten Bondbereichs aufschmilzt, und anschließendes Abkühlen zum Ausbilden eines festen Bondverbindungsbereichs zwischen dem ersten Substrat (S1) und dem zweiten Substrat (S2).