VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR KOMBINIERTEN ABSORPTIONS- UND REFLEKTANZSPEKTROSKOPIE
    122.
    发明公开
    VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR KOMBINIERTEN ABSORPTIONS- UND REFLEKTANZSPEKTROSKOPIE 失效
    方法和装置结合,吸收REFLEKTANZSPEKTROSKOPIE

    公开(公告)号:EP0938658A1

    公开(公告)日:1999-09-01

    申请号:EP97951785.0

    申请日:1997-11-14

    Abstract: The invention relates to the synchronous determination of the absorption, fluorescence, dispersion and refraction of liquids, gases and solids (measurement volumes) with high sensitivity. Radiation of defined wavelength is coupled into a multiple reflection device. The transmitted coupling radiation is measured with a receiver that is located immediately behind a semireflecting mirror. The diffuse reflection that is directed against the direction of incidence and the radiation which is specularly reflected at the boundary surface with the measurement volume are measured with a receiver that is directed at the measurement volume and located on the coupling mirror. The absorbing power is determined from the reciprocal value of the transmitted coupling radiation. The scattering power and fluorescence power are determined indirectly from the combination of diffuse reflection and transmitted radiation. The refraction is determined from the combination of specularly reflected radiation and transmitted radiation. The invention describes a method and a simple and robust device designed in modular system. Ranges of application are analysis, quality control and inspection in industry, environment and medicine.

    ANALYSER
    123.
    发明公开
    ANALYSER 失效
    分析仪

    公开(公告)号:EP0858592A1

    公开(公告)日:1998-08-19

    申请号:EP96931082.0

    申请日:1996-09-20

    Applicant: LABSYSTEMS OY

    CPC classification number: G01N21/253 G01N2201/024

    Abstract: The invention relates to an optical analyser wherein measuring light is directed from a sample to the detector. The apparatus has an optics module (15) which has a detector and optical means for directing light emitted by the sample to the detector and which module can be positioned alternatively either so that light is directed to the detector from above the sample or so that light is directed to the detector from below the sample. The invention is usable in particular in fluorometers and in luminometers.

    ELECTRO-OPTICAL MEASURING INSTRUMENTS
    125.
    发明公开
    ELECTRO-OPTICAL MEASURING INSTRUMENTS 失效
    ELECTRO光学仪器。

    公开(公告)号:EP0426748A1

    公开(公告)日:1991-05-15

    申请号:EP89909026.0

    申请日:1989-07-25

    Abstract: Cette invention concerne un module (2) d'acheminement optique adapté pour une utilisation dans un microscope à lumière (1) pour l'analyse d'échantillons simultanément avec une source (10) primaire de lumière et une source (7) secondaire de lumière, de longueurs d'ondes différentes. Le module (2) comprend un logement sur lequel sont montés des premier et second systèmes polariseurs de fractionnement des rayons PBS1, PBS2 le long d'une trajectoire de faisceau lumineux primaire à travers le module, et comportant des moyens (5, 6) d'entrée et de sortie de faisceau lumineux secondaire situés à l'opposé des différents systèmes polariseurs de fractionnement des rayons PBS1, PBS2, ayant une plage de longeur d'onde de fonctionnement prédéterminée définie entre des longueurs d'ondes transitionnelles de plan s et p, excluant sensiblement la bande de longueur d'onde de la source lumineuse primaire et de sorte qu'au moins un élément de plan polariseur de chacune de la source lumineuse secondaire et d'une sortie lumineuse secondaire provenant de l'échantillon est soumise à une transmission et une réflexion différentes de celles auxquelles la source lumineuse primaire est soumise au niveau de chacun des premier et second systèmes polariseurs de fractionnement des rayons PSB1, PSB2. Lesdits systèmes sont en outre formés et agencés pour définir une trajectoire de faisceau lumineux secondaire de l'entrée (5) à la sortie (6) de sorte que la trajectoire de faisceau lumineux secondaire soit sensiblement amenée en alignement avec une jambe située en dehors de la trajectoire dudit faisceau primaire en amont de l'échatillon, par ledit premier système polariseur de fractionnement des rayons PBS1, et est séparé en retour hors d'une jambe de retour de la trajectoire dudit faisceau lumineux primaire en aval de l'échantillon par ledit second système polariseur de fractionnement des rayons PBS2. Cet agencement permet lors de l'utilisation (2) dans un microscope à lumière (1), de contrôler la surface d'incidence d'un faisceau lumineux

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