摘要:
Die Erfindung bezieht sich auf einen Adapter (175) für ein Leiterplattenprüfgerät und dient dazu, im Raster befindliche Prüfkontakte mit in und,oder außer Raster befindlichen Prüfpunkten einer zu prüfenden Leiterplatte durch Adapterstifte (181) zu verbinden. Die Adapterstifte (181) sind an ihren den Prüfpunkten zugewandten Enden konisch verjüngt. Der Adapter (1751 weist eine erste Führungsplatte (176) eine zweite Fuhrungsplatte (177) und eine dazwischen liegende dritte Fuhrungsplatte (178) auf. Die erste Führungsplatte (176) weist nur im Raster befindliche Löcher (180) auf. Die zweite Führungsplatte (177) weist im Raster befindliche Löcher (179) sowie außer Raster befindliche Löcher (179a) auf. Um zu gewährleisten, daß die Prüfstifte (181) bei senkrechter Einfuhrung in die Führungslöcher (180) der ersten Führungsplatte (176) zwangsläufig immer in die entsprechenden Führungslöcher (179, 179a) der zweiten Leiterplatte (177) geführt werden, wird der Versatz für außer Raster befindliche Löcher in der dritten Führungsplatte (178) so gewählt, daß die konische Spitze der Adapterstifte (181) auf jeden Fall noch in das entsprechende außer Raster befindliche Führungsloch (182a) der dritten Führungsplatte (178) trifft.
摘要:
Die Erfindung bezieht sich auf einen Adapter (45) für ein _ Leiterplattenprüfgerät, mittels welchem im Raster befindliche Prüfkontakte mit in und/oder außer Raster befindlichen Prüfpunkten einer zu prüfenden Leiterplatte durch Adapterstifte (55 bis 58) verbindbar sind, mit einer ersten und einer zweiten Führungsplatte (46,48), die parallel zueinander und in einem Abstand (m) voneinander angeordnet sind und Führungslöcher (47,49) für die Adapterstifte (55 bis 58) aufweisen, in die die Adapterstifte (55-58) einsteckbar sind, wobei die Führungslöcher (47) in der ersten Führungsplatte (46) im Raster und die in der zweiten Führungsplatte (48) im Muster der Prüfpunkte der zu prüfenden Leiterplatte,angeordnet sind. Es ist der Zweck der Erfindung, den Adapter so auszugestalten, daß auch bei Handmontage die gegenseitige Berührung von Adapterstiften (55-58) ausgeschlossen und eine Leichtgängigkeit von Adapterstiften (55-58) gewährlelstet ist. Dies wird dadurch erreicht, daß die erste Führungsplatte (46) an allen Rasterpunkten Führungslöcher (47 aufweist, daß der Abstand (m) der Führungsplatten (46,48) voneinander zwischen einer Montageposition und einer Arbeitsposition veränderlich ist und daß eine bestimmte Begrenzung des Auslenkwinkels (k,) der Adapterstifte (55-58) vorgegeben ist.
摘要:
Bei einer Vorrichtung zur Abgabe und/oder Aufnahme von Platten, insbesondere Leiterplatten, von bzw. in einem Plattenstapel (1) mit einer zwei einander gegenüberliegende Halteglieder (10,11) aufweisenden Aufnahmeeinrichtung (2) für den Plattenstapel (1) und mit einer zur Plattenabführung bzw. Plattenzuführung dienenden Plattenführungseinrichtung (14,15,16,17) unterhalb den Haltegliedern (10,11) der Aufnahmeeinrichtung (2) erfolgt eine solche Relativbewegung zwischen den Haltegliedern (10,11) der Aufnahmeeinrichtung (2) und der Plattenführungseinrichtung (14,15,16,17), daß der von den Haltegliedern (10,11) freigegebene Plattenstapel (1) mit seiner untersten Platte (23) von der Plattenführungseinrichtung (14,15,16,17) bzw. von einer darauf zugeführten Platte aufnehmbar ist, woraufhin der um die unterste Platte (23) verminderte bzw. vermehrte Plattenstapel (1) von den Haltegliedem (10,11) erfaßbar und die Plattenführungseinrichtung (14,15,16,17) entsprechend einem die Dicke einer Platte übersteigenden Abstand zur Abführung der aufgenommenen Platte (23) bzw. zur Zuführung einer neuen Platte absenkbar ist.
摘要:
Bei einer Universal-Prüfvorrichtung für elektrische Leiterplatten soll je eine ein Teilrasterfeld abdeckende Teilzahl von Prüfstiften (26) jeweils an einem von mehreren separierbaren Moduln (27) vorgesehen werden, der den dieser Prüfstift-Teilzahl entsprechenden Teil der Schaltermatrix enthält. Jeder Modul (27) soll mit anderen Moduln (27) und/oder dem Steuerschaltungsteil (32) der Vorrichtung elektrisch verbindbar sein. Die Vorrichtung weist ferner eine mit Führungslöchern (36) für die Prüfstifte (26) versehene Rasterlochplatte (24) auf, auf die die Moduln (27) hängend aufsetzbar sind, derart, daß die Prüfstifte (26) die Führungslöcher (36) durchgreifen. Ferner sollen die Moduln (27) so geformt sein, daß sie zur Abdeckung eines der zu prüfenden Leiterplatte (22) entsprechenden Teilbereiches des gesamten durch die Rasterlochplatte (24) definierten Rasterfeldes baukastenförmig zusammensetzbar sind.
摘要:
Die Erfindung bezieht sich auf einen Adapter (13) für ein Leiterplattenprüfgerät, mittels welchem im Raster befindliche Prüfkontakten mit in- und / oder außer Raster befindlichen Prüfkontakten einer zu prüfenden Leiterplatte durch Adapterstifte (51-56) verbindbar sind, die drei (einer ersten (10), zweiten (15) und dritten (16)) Führungsplatten durchfassen, wobei die dritte Führungsplatte (16) zwischen der ersten (10) und zweiten (15) angeordnet ist, und bezweckt den Adapter so auszubilden, daß das Laden bzw. Entladen einfacher ist. Hierzu ist die dritte Führungsplatte (16) senkrecht zur ersten (10) und der zweiten (15) Führungsplatte verschiebbar und die Führungslöcher (20) der dritten Führungsplatte (16) sind an allen Rasterpunkten vorgesehen und haben einen Durchmesser, der ein begrenztes Lenkspiel der Adapterstifte (51-56) in diesen Führungslöchern zuläßt.