公开(公告)号：EP0436432A1

公开(公告)日：1991-07-10

申请号：EP90403745.4

申请日：1990-12-21

申请人： SODENA Société à Responsabilité Limitée

发明人： Huignard, Jean Christian Philippe ,  Sauvin, Patrick ,  Bazzi, Oussama ,  Torguet, Roger

IPC分类号： G06E3/00 ,  G06E1/02

CPC分类号： G06E3/005 ,  G06E1/02

摘要： Le procédé est destiné à la détection, la reconnaissance et l'exploitation de séquences significatives de signaux modulés sur une fréquence porteuse, mêlées à d'autres signaux, du type selon lequel on génère une séquence test correspondant à la séquence à reconnaître toutes deux de profils coordonnés, puis que l'on transforme les signaux électriques de ces séquences en signaux ultrasonores, puis que l'on conduit la séquence test (X) et une séquence reçue (W) après transformation en signaux ultrasonores à un unique corps cristallin (50) du genre cellule de Bragg, pour que ces deux séquences (X et W) parcourent parallèlement ledit corps cristallin unique (50).
Selon l'invention, on dirige simultanément un faisceau laser (Y) dans l'unique et même corps cristallin (50), mais dans une direction sensiblement perpendiculaire à la précédente, c'est-à-dire à l'angle de Bragg afin que les rayons du faisceau laser soient défléchis dans une direction par la séquence test (X) et aussi dans la même direction par la séquence reçue (W), puis que l'on analyse les rayons résultants (Z) à leur sortie de l'unique corps cristallin (50), puis que l'on extrait les rayons défléchis (Z4, Z′₁-Z′₂) des rayons résultants Z, puis que, pour chaque bit des séquences (W et X), l'on considère afin de les comparer, les rayons (Z) non défléchis, les rayons (Z′, Z′₁) défléchis une fois et les rayons (Z′₂)défléchis deux fois.

摘要翻译： 该方法的目的是用于检测，识别和使用调制到一个载波频率信号显著序列，与其他信号混合，其中产生一个测试频率的类型雅丁的，对应于该序列被识别， 两者的协调型材，然后合成序列的电信号被转换成超声波信号，则测试序列（X）和接收到的序列（W）被引导，转变成超声信号后，到信号结晶体（50） 布拉格细胞类型的，所以没有论文两个序列（X，W）的遍历在平行于所述单晶体（50）。 。根据本发明，激光束（Y）被同时引导进入同一单晶体（50），但沿基本上垂直于所述前面的，所做的是在布拉格角也就是说，作为激光束的光线做 由测试序列（X）由接收到的序列（W）在一个方向上偏转，从而在相同的方向，然后将所得的射线（Z）上分析他们从单晶体（50）输出，被偏转的光线 （Z4，Z'1-Z '2）从所得的射线（Z）萃取，然后，对于序列中的每个比特（W和X），非偏转射线（Z）中，光线（Z' Z'1）偏转一次和光线（Z“2）偏转两次进行检查，以便将它们进行比较。