Verfahren und Vorrichtung zur Bearbeitung von Werkstücken aus festen Materialien
    1.
    发明公开
    Verfahren und Vorrichtung zur Bearbeitung von Werkstücken aus festen Materialien 失效
    对于固体材料的加工工件的方法和装置

    公开(公告)号:EP0794031A2

    公开(公告)日:1997-09-10

    申请号:EP96118884.4

    申请日:1996-11-26

    摘要: Das Verfahren dient zur Bearbeitung von Werkstücken (3) aus festen Materialien, insbesondere von Glas in vorzugsweise rohrförmiger Gestalt für die Anwendung bzw. Verwendung im pharmazeutischen, chemischen oder veterinärmedizinischen Bereich mittels optischer, im sichtbaren oder im spektral angrenzenden Bereich liegender Bearbeitungsstrahlen (1, 2). Zum Trennen, Bohren oder gezielten Materialabtragen wird ein erster, entsprechend scharf fokussierter und eine hohe Leistungsdichte aufweisender Bearbeitungsstrahl (1) angewendet. Zum Umformen, Umschmelzen oder zur Wärmebehandlung dient ein zweiter Bearbeitungsstrahl (2) mit geringerer Leistungsdichte, wobei der zweite Bearbeitungsstrahl (2) entsprechend der Anwendung geringer fokussiert oder auch divergent ist. Die beiden Bearbeitungsstrahlen (1, 2) sind über Ablenkeinheiten (11, 17) so einstellbar, daß sie an gleichen oder auch an unterschiedlichen Bearbeitungsorten unter paralleler oder zueinander geneigter Ausrichtung auftreffen. Dazu sind ein erster Interferenzmodulator (11) zur Aufspaltung in einen transmittierten und einen reflektierten Strahl (14, 15) vorgesehen, wobei der transmittierte Strahl 14 durch Umlenkspiegel (12, 13) in prismenartiger Anordnung reflektiert wird und in entgegengesetzter Richtung nochmals den ersten Interferenzmodulator (11) durchläuft. Ferner ist ein zweiter Interferenzmodulator (17) vorgesehen, an dem der reflektierte Strahl 15 nach Durchlaufen eines Telekops 16 erneut reflektiert wird, während der doppelt transmittierte Strahl 14 von der anderen Seite des zweiten Interferenzmodulators (17) her zur erneuten Transmission eingestrahlt wird.

    摘要翻译: 的加工工件的方法(3),爱特别是玻璃制药,化学或兽医应用,通过在可见光或光谱上邻近区域的光束(1,2)管,包括:(A)切断,钻孔或局部的材料去除,进行 由第一,大幅集中,高功率密度束(1); (B)成形,熔融或在由第二执行热处理,较低的功率密度束(2),其可较少聚焦或发散甚至,这取决于用途; 和(c)两个梁(1,2)由这样GDP是可以平行排列,或在相同或不同的处理位置倾斜到彼此以入射偏转单元(11,17)被调整。 这样一种被用于执行具有上述方法的装置:(ⅰ)一个光束生成单元,用于产生不同的,范围广泛地调整光束特性的两个处理光束,第一光束被急剧聚焦和高功率密度的和第二光束是很差 聚焦或发散和较低的功率密度的; (二)偏转单元(11,17),用于所述束分成用于在共同的或单独的处理位置处入射平行或彼此倾斜的对准的相互独立的偏转; 和(iii)用于所述工件的夹紧和定位单元。

    Verfahren und Vorrichtung zur Bearbeitung von Werkstücken aus festen Materialien
    2.
    发明公开
    Verfahren und Vorrichtung zur Bearbeitung von Werkstücken aus festen Materialien 失效
    对于固体材料的加工工件的方法和装置

    公开(公告)号:EP0794031A3

    公开(公告)日:1998-01-28

    申请号:EP96118884.4

    申请日:1996-11-26

    摘要: Das Verfahren dient zur Bearbeitung von Werkstücken (3) aus festen Materialien, insbesondere von Glas in vorzugsweise rohrförmiger Gestalt für die Anwendung bzw. Verwendung im pharmazeutischen, chemischen oder veterinärmedizinischen Bereich mittels optischer, im sichtbaren oder im spektral angrenzenden Bereich liegender Bearbeitungsstrahlen (1, 2). Zum Trennen, Bohren oder gezielten Materialabtragen wird ein erster, entsprechend scharf fokussierter und eine hohe Leistungsdichte aufweisender Bearbeitungsstrahl (1) angewendet. Zum Umformen, Umschmelzen oder zur Wärmebehandlung dient ein zweiter Bearbeitungsstrahl (2) mit geringerer Leistungsdichte, wobei der zweite Bearbeitungsstrahl (2) entsprechend der Anwendung geringer fokussiert oder auch divergent ist. Die beiden Bearbeitungsstrahlen (1, 2) sind über Ablenkeinheiten (11, 17) so einstellbar, daß sie an gleichen oder auch an unterschiedlichen Bearbeitungsorten unter paralleler oder zueinander geneigter Ausrichtung auftreffen. Dazu sind ein erster Interferenzmodulator (11) zur Aufspaltung in einen transmittierten und einen reflektierten Strahl (14, 15) vorgesehen, wobei der transmittierte Strahl 14 durch Umlenkspiegel (12, 13) in prismenartiger Anordnung reflektiert wird und in entgegengesetzter Richtung nochmals den ersten Interferenzmodulator (11) durchläuft. Ferner ist ein zweiter Interferenzmodulator (17) vorgesehen, an dem der reflektierte Strahl 15 nach Durchlaufen eines Telekops 16 erneut reflektiert wird, während der doppelt transmittierte Strahl 14 von der anderen Seite des zweiten Interferenzmodulators (17) her zur erneuten Transmission eingestrahlt wird.