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发明公开
ARTIFICIAL INTELLIGENCE (AI) ASSISTED ANALYSIS OF ELECTRON MICROSCOPE DATA 审中-公开

公开(公告)号：EP4226291A1

公开(公告)日：2023-08-16

申请号：EP21878676.2

申请日：2021-10-08

申请人： Battelle Memorial Institute

发明人： REEHL, Sarah M. , SPURGEON, Steven R.

IPC分类号： G06N3/08 , G06T7/11 , G06T7/136