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公开(公告)号：EP4273821A3
公开(公告)日：2024-05-01
申请号：EP23190474.9
申请日：2020-02-21
摘要： Ein Verfahren zur Überprüfung einer Münze oder einer Medaille umfasst das Bestimmen (S110) einer horizontalen Referenzebene der Münze oder Medaille, das Erzeugen (S120) einer Messgröße in Bezug auf die horizontale Referenzebene; und das Ermitteln (S130) eines Überprüfungsergebnisses aus der Messgröße.
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公开(公告)号：EP4273821A2
公开(公告)日：2023-11-08
申请号：EP23190474.9
申请日：2020-02-21
IPC分类号： G07D5/00
摘要： Ein Verfahren zur Überprüfung einer Münze oder einer Medaille umfasst das Bestimmen (S110) einer horizontalen Referenzebene der Münze oder Medaille, das Erzeugen (S120) einer Messgröße in Bezug auf die horizontale Referenzebene; und das Ermitteln (S130) eines Überprüfungsergebnisses aus der Messgröße.
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公开(公告)号：EP3699875A8
公开(公告)日：2020-10-21
申请号：EP20158869.6
申请日：2020-02-21
IPC分类号： G07D5/00
摘要： Ein Verfahren zur Überprüfung einer Münze oder einer Medaille umfasst das Bestimmen (S110) einer horizontalen Referenzebene der Münze oder Medaille, das Erzeugen (S120) einer Messgröße in Bezug auf die horizontale Referenzebene; und das Ermitteln (S130) eines Überprüfungsergebnisses aus der Messgröße.
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公开(公告)号：EP3699875A1
公开(公告)日：2020-08-26
申请号：EP20158869.6
申请日：2020-02-21
IPC分类号： G07D5/00
摘要： Ein Verfahren zur Überprüfung einer Münze oder einer Medaille umfasst das Bestimmen (S110) einer horizontalen Referenzebene der Münze oder Medaille, das Erzeugen (S120) einer Messgröße in Bezug auf die horizontale Referenzebene; und das Ermitteln (S130) eines Überprüfungsergebnisses aus der Messgröße.
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