专利检索 ap:("FormFactor, Inc.") AND inv:"BENG, Sia, Choon" 第 1 页

1.

发明公开
MICROSCOPES WITH OBJECTIVE ASSEMBLY CRASH DETECTION AND METHODS OF UTILIZING THE SAME 审中-公开

公开(公告)号：EP3918401A1

公开(公告)日：2021-12-08

申请号：EP20748747.1

申请日：2020-01-27

申请人： FormFactor, Inc.

发明人： GISLER, Gerald, Lee , BENG, Sia, Choon , LORD, Anthony James , FISHER, Gavin, Neil

IPC分类号： G02B21/02 , G02B21/24 , G02B7/02 , H04N7/18