公开(公告)号：EP0643308A1

公开(公告)日：1995-03-15

申请号：EP94306461.8

申请日：1994-09-02

申请人： InTest Corporation

发明人： Holt, Alyn R. ,  Matthiesson, Robert E. ,  West, Christopher L.

IPC分类号： G01R1/04

CPC分类号： G01R1/04 ,  B25J9/1694 ,  G01R31/2887 ,  G05B2219/37133 ,  G05B2219/37404 ,  G05B2219/40082 ,  G05B2219/45089 ,  G05B2219/49117 ,  Y10S248/913 ,  Y10S414/13 ,  Y10T74/18576

摘要： A positioner facilitates docking and undocking of an electronic test head with a device handler. The position provides for rotation of the test head about a first axis. The positioner includes a scissor arm structure for moving the test head along a second axis orthogonal to the first axis

摘要翻译： 定位器便于与设备处理器对接和脱离电子测试头。 该位置提供测试头围绕第一轴的旋转。 定位器包括用于沿着与第一轴正交的第二轴移动测试头的剪刀臂结构

公开(公告)号：EP2506021B1

公开(公告)日：2015-06-17

申请号：EP12172869.5

申请日：2007-12-26

申请人： inTEST Corporation

发明人： Nappen, Charles, P. ,  West, Christopher L. ,  Crowell, Steven, J.

IPC分类号： G05D16/20 ,  B66F7/16 ,  G01R31/28

CPC分类号： G05D16/20 ,  B66F3/28 ,  B66F7/16 ,  G01R31/2887

公开(公告)号：EP0643308B1

公开(公告)日：2001-12-12

申请号：EP94306461.8

申请日：1994-09-02

申请人： InTest Corporation

发明人： Holt, Alyn R. ,  Matthiesson, Robert E. ,  West, Christopher L.

IPC分类号： G01R1/04

CPC分类号： G01R1/04 ,  B25J9/1694 ,  G01R31/2887 ,  G05B2219/37133 ,  G05B2219/37404 ,  G05B2219/40082 ,  G05B2219/45089 ,  G05B2219/49117 ,  Y10S248/913 ,  Y10S414/13 ,  Y10T74/18576