公开(公告)号：EP4443107A1

公开(公告)日：2024-10-09

申请号：EP23217748.5

申请日：2023-12-18

申请人： Jena Optronik GmbH

发明人： Dr.-Ing. Schmidt, Uwe ,  Möller, Erik ,  Hädrich, Bernd ,  Hahn, Steffen ,  Boy, Michael ,  Dr. Colditz, Sebastian

IPC分类号： G01C21/02 ,  B64G1/36

CPC分类号： G01C21/025 ,  B64G1/361

摘要： Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf einen kalibrierten Sternbildsimulator (1 10), ein System (100) und ein Verfahren (V) zum Einmessen und/oder Test eines auf einem Raumflugkörper (130) montierten Sternsensors (120). Der kalibrierte Sternbildsimulator (110) umfasst eine optische Vorrichtung (111) konfiguriert zum Projizieren einer definierten Sternformation (IRF) eines Sternkataloges vorzugsweise auf einen Raumflugkörper (130) montierten Sternsensor (120). Ferner umfasst der kalibrierte Sternbildsimulator (110) eine Abgleicheinheit (113) mit einer Positions- und/oder Lagereferenz (ARF) des kalibrierten Sternbildsimulators (110) konfiguriert zum Erfassen einer Position- und/oder Lage des kalibrierten Sternbildsimulators (110) im Raum, wobei die definierte Sternformation (IRF) und die Positions- und/oder Lagereferenz (ARF) in einer ersten fest kalibrierten Rotation (QOSPS) zueinander liegen. Der kalibrierte Sternbildsimulator (110) verbessert das Einmessen des Sternsensor (120) als eigenständiges Kalibriernormal. Der Sternbildsimulator (110) wird zu einem Kalibriernormal.