公开(公告)号：EP1358524A1

公开(公告)日：2003-11-05

申请号：EP02716224.7

申请日：2002-01-29

申请人： SCHLUMBERGER Systèmes ,  Schlumberger Malco, Inc.

发明人： MALLET, Jean-Pascal ,  PLANTIER, Bernard ,  LAMARCHE, Damien

IPC分类号： G05F1/618 ,  G01R31/28

CPC分类号： G01R31/28 ,  G01R31/30

摘要： The invention relates to installations for testing components, particularly electronic chips having a permanently-increasing performance, especially in terms of current supported over long periods. In order to perform said tests correctly, the invention provides for a device that can deliver currents of up to and of the order of 200A in a few microseconds. For this purpose, the device comprises a time-dependent power chopper (PWM) linked to a high-frequency linear amplifier (HFLA).

摘要翻译： 本发明涉及用于测试部件的装置，尤其是具有永久增加的性能的电子芯片，特别是在长期支持的电流方面。 为了正确地执行所述测试，本发明提供了一种装置，其可以在几微秒内递送高达200A的量级的电流。 为此，该器件包含一个与高频线性放大器（HFLA）相连的时间相关功率斩波器（PWM）。