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1.发明公开
公开(公告)号：EP0330101A3
公开(公告)日：1990-06-27
申请号：EP89102843.3
申请日：1989-02-18
CPC分类号： A61C19/045
摘要： Zur Analyse der Artikulationsbewegung zwischen Oberkiefer (1) und Unterkiefer (2) zueinander werden in den Oberkiefer (1) und in den Unterkiefer (2) Platten (4, 6) eingesetzt, die eine Senderanordnung mit mehreren Strahlenquellen (3) und eine Empfängeranordnung (5) zur Detektion von Auftreffpunkten der emittierten Strahlen aufweisen. Mit dieser Vorrichtung lassen sich alle relativen Bewegungen der durch Unterkiefer (2) und Oberkiefer (1) gebildeten Ebenen detektieren.
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2.发明公开Vorrichtung zur Analyse der Artikulationsbewegung zwischen Oberkiefer und Unterkiefer 失效Vorrichtung zur Analyze der Artikulationsbewegung zwischen Oberkiefer und Unterkiefer。
公开(公告)号：EP0330101A2
公开(公告)日：1989-08-30
申请号：EP89102843.3
申请日：1989-02-18
CPC分类号： A61C19/045
摘要： Zur Analyse der Artikulationsbewegung zwischen Oberkiefer (1) und Unterkiefer (2) zueinander werden in den Oberkiefer (1) und in den Unterkiefer (2) Platten (4, 6) eingesetzt, die eine Senderanordnung mit mehreren Strahlenquellen (3) und eine Empfängeranordnung (5) zur Detektion von Auftreffpunkten der emittierten Strahlen aufweisen. Mit dieser Vorrichtung lassen sich alle relativen Bewegungen der durch Unterkiefer (2) und Oberkiefer (1) gebildeten Ebenen detektieren.
摘要翻译： 为了分析上颚（1）和下颚（2）之间的关节运动，板（4,6）装配在上颚（1）和下颚（2）中，这些板具有传动装置 具有几个光束源（3）和用于检测发射光束的撞击点的接收器装置（5）。 利用该装置，可以检测由下颚（2）和上颚（1）形成的平面的所有相对运动。
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3.发明授权
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