公开(公告)号：EP2542864A1

公开(公告)日：2013-01-09

申请号：EP11709030.8

申请日：2011-02-23

申请人： Takata AG

发明人： KANDLER, Marcus ,  SALZIGER, Jan Michael

IPC分类号： G01D3/08 ,  G01R31/28

CPC分类号： G01R31/28 ,  G01D3/08 ,  G01R31/2829

摘要： The invention relates to a method and device for checking an electronic device for determining at least one parameter of the system, wherein the method comprises the steps of: a) determining an expected minimum and/or maximum value of the parameter; b) acquiring the parameter of the system and generating an electrical signal by the electronic device as a function of the acquired parameter; c) determining at least one value (x, y) of a characteristic parameter (X, Y) of the generated electrical signal; d) setting an expected minimum and/or maximum value of the characteristic parameter (X, Y) as a function of the determined minimum and/or maximum value of the parameter of the system; e) checking whether the determined value of the characteristic value (X, Y) is greater than the minimum value set for the characteristic parameter and/or is less than the maximum value; f) determining whether a fault is present in the electronic device using the result from step e).

摘要翻译： 一种用于测试用于确定系统的至少一个变量的电子设备的方法和设备。 电子设备是以传感器的形式设计的。 该方法包括根据该变量定义变量的预期最小值和/或最大值并借助于电子设备产生电信号。 该方法还包括检测所产生的电信号的参数的至少一个值，并根据所确定的系统的变量的最小值和/或最大值来定义参数的预期最小值和/或最大值。 基于参数的检测值是否大于为参数定义的最小值和/或小于最大值，确定是否存在由外部电磁干扰场引起的电子设备的故障。