公开(公告)号：EP2985579B1

公开(公告)日：2019-11-27

申请号：EP15172759.1

申请日：2015-06-18

Applicant: Tecan Trading AG

Inventor： NIGGL, Lutz ,  ERLBACHER, Andreas ,  MÜNCHOW, Frank

IPC: G01J3/06 ,  G01J3/18 ,  G01J3/12 ,  G01N21/64 ,  G01N35/02 ,  G01J3/42 ,  G01N21/25 ,  G01N21/31

公开(公告)号：EP2985579A1

公开(公告)日：2016-02-17

申请号：EP15172759.1

申请日：2015-06-18

Applicant: Tecan Trading AG

Inventor： NIGGL, Lutz ,  ERLBACHER, Andreas ,  MÜNCHOW, Frank

IPC: G01J3/06 ,  G01J3/18 ,  G01J3/12 ,  G01N21/64 ,  G01N35/02

Abstract: Ein Spektrometer (1) umfasst eine Lichtquelle (2), einen Monochromator (3) mit mindestens einem Beugungsgitter (4), ein Monochromator-Gehäuse (5), einen Order-Sorting-Filter (7), eine Mikroplatten-Aufnahme (12) und eine Steuerung (6). Der Order-Sorting-Filter (7) dieses Spektrometers (1) umfasst ein Substrat (23), eine erste optische Dünnschicht (24) und eine zweite optische Dünnschicht (25), wobei die erste optische Dünnschicht (24) auf einer ersten Oberfläche (26) und die zweite optische Dünnschicht (25) auf einer zweiten Oberfläche (27) des Substrats (23) räumlich teilweise überlappend und interferenzfrei angeordnet sind. In einem Raster-Verfahren zum Erfassen des Absorptions-Spektrums von in Wells (14) von Mikroplatten (13) untersuchten Proben wird ein mit einem entsprechenden Order-Sorting-Filter ausgerüstetes Spektrometer (1) verwendet.

Abstract translation: 光谱仪（1）包括光源（2），具有至少一个衍射光栅（4）的单色仪（3），单色仪外壳（5），订单分类过滤器（7），微孔板容器（12）和 控制器（6）。 光谱仪（1）的顺序分选过滤器（7）包括基板（23），第一光学薄膜（24）和第二光学薄膜（25），其中，在空间上部分重叠和无干扰的方式 第一光学薄膜（24）布置在第一表面（26）上，第二光学薄膜（25）被布置在基板（23）的第二表面（27）上。 在用于检测在微孔板（13）的孔（14）中检测的样品的吸收光谱的扫描方法中，使用装备有相应的顺序分选滤光器的光谱仪（1）。