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    Pattern identification and bit level measurements on repetitive patterns
    2.
    发明公开
    Pattern identification and bit level measurements on repetitive patterns 有权
    Signalmustererkennung und Bitniveaumessungen a sich wiederholenden Signalmustern

    公开(公告)号：EP1643258A1

    公开(公告)日：2006-04-05

    申请号：EP05255893.9

    申请日：2005-09-22

    申请人： Tektronix, Inc.

    发明人： Kayal, Saumitra ,  Ajgaonkar, Manisha

    IPC分类号： G01R31/3193 ,  G01R31/319 ,  H04L1/20 ,  H04L7/02

    CPC分类号： H04L1/24 ,  G01R31/31711 ,  G01R31/319 ,  G01R31/31903 ,  G01R31/31937

    摘要： A method of pattern identification and bit level measurements for a high speed digital signal using an oscilloscope converts an input waveform into a bit stream sequence. From the bit stream sequence pre-defined patterns are identified and overlaid on each other to form a superimposed pattern. A center region for each bit of the superimposed pattern is identified, and appropriate voltage measurements within the respective center regions are taken for the bit levels.

    摘要翻译： 使用示波器的高速数字信号的模式识别和位电平测量的方法将输入波形转换为位流序列。 从比特流序列中，预定义的图案被识别并彼此重叠以形成叠加图案。 识别叠加图案的每个位的中心区域，并且针对位电平采取相应中心区域内的适当电压测量。