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    VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR MESSUNG VON MERKMALEN AN WERKSTÜCKEN
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    发明公开
    VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR MESSUNG VON MERKMALEN AN WERKSTÜCKEN 审中-公开
    VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR MESSUNG VON MERKMALEN ANWERKSTÜCKEN

    公开(公告)号：EP3230683A1

    公开(公告)日：2017-10-18

    申请号：EP15808196.8

    申请日：2015-12-11

    申请人： Werth Messtechnik GmbH

    发明人： CHRISTOPH, Ralf ,  SCHMIDT, Ingomar ,  WEGNER, Volker ,  ANDRÄS, Matthias ,  NEUSCHAEFER-RUBE, Ulrich ,  ETTEMEYER, Andreas ,  DEMIREL, Mehmet ,  LINZ-DITTRICH, Sabine ,  HOPP, Benjamin

    IPC分类号： G01B5/012 ,  G01B11/00 ,  G01B11/245

    CPC分类号： G01B11/007 ,  G01B5/012 ,  G01B11/245 ,  G01B2210/50 ,  G06T7/0004 ,  G06T2207/30164 ,  H04N5/369

    摘要： The invention relates to a method and device for geometrically determining features of a workpiece, comprising an image processing sensor having a first beam path, said first beam path comprising at least one front optical unit facing the workpiece to be measured, and an optical splitter being mounted on the side of the front optical unit facing away from the workpiece. Said optical splitter connects a second beam path to the image processing beam path, a common beam path being formed, and said second beam path being associated with a second optical sensor, the image processing sensor and the second sensor being designed to directly measure the surface of the workpiece. The front optical unit is formed as an asphere and/or has a longitudinal chromatic aberration.

    摘要翻译： 用于几何地确定工件特征的方法和设备技术领域本发明涉及用于几何地确定工件特征的方法和设备，其包括具有第一光束路径的图像处理传感器，所述第一光束路径包括面向待测量工件的至少一个前光学单元， 安装在前部光学单元的背离工件的一侧。 所述分光器将第二光束路径连接到图像处理光束路径，形成公共光束路径，并且所述第二光束路径与第二光学传感器相关联，图像处理传感器和第二传感器被设计成直接测量表面 的工件。 前光学单元形成为非球面和/或具有纵向色差。