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    IMAGING DEVICE AND METHOD FOR ALIGNING IMAGES
    6.
    发明公开
    IMAGING DEVICE AND METHOD FOR ALIGNING IMAGES 审中-公开

    公开(公告)号：EP4293408A1

    公开(公告)日：2023-12-20

    申请号：EP22178948.0

    申请日：2022-06-14

    申请人： Leica Microsystems CMS GmbH

    发明人： Ritschel, Kai ,  Beljan, Mate

    IPC分类号： G02B21/36 ,  G02B27/10 ,  G02B21/24 ,  G02B21/16 ,  G02B21/26 ,  G06T7/10 ,  G06T7/30

    摘要： An imaging device (100) comprises a detection optics (108) configured to receive detection light from a sample (102), and to direct the detection light into a main beam path (110). The imaging device (100) also comprises a beam splitting element (112) configured to be inserted into the main beam path (110), to direct a first part of the detection light into a first branched beam path (114), and to direct a second part of the detection light into a second branched beam path (116). At least one first filter element (122) is configured to be inserted into the first branched beam path (114). A first detector element (120) is arranged in the first branched beam path (114), and configured to capture at least a first test image when the beam splitting element (112) is inserted into the main beam path (110) and the first filter element (122) is not inserted into the first branched beam path (114), a third test image the first filter element (122) is inserted into the first branched beam path (114), and a first actual image. At least one second filter element (128) is configured to be inserted into the second branched beam path (116). A second detector element (126) is arranged in the second branched beam path (116), and configured to capture at least a second test image when the beam splitting element (112) is inserted into the main beam path (110) and the second filter element (128) is not inserted into the second branched beam path (116), a fourth test image when the second filter element (128) is inserted into the second branched beam path (116), and a second actual image. The imaging device (100) further comprises a controller (130) configured to determine a first misalignment between the first test image and the second test image, a second misalignment between the third test image and the first test image, and a third misalignment between the fourth test image and the second test image; and to align the first actual image and the second actual image based on the first misalignment, the second misalignment, and the third misalignment.

    BAUKASTENSYSTEM FÜR EINE MIKROSKOPIEVORRICHTUNG, MIKROSKOPIEVORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM HERSTELLEN EINER MIKROSKOPIEVORRICHTUNG
    7.
    发明公开
    BAUKASTENSYSTEM FÜR EINE MIKROSKOPIEVORRICHTUNG, MIKROSKOPIEVORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM HERSTELLEN EINER MIKROSKOPIEVORRICHTUNG 审中-公开

    公开(公告)号：EP4290292A1

    公开(公告)日：2023-12-13

    申请号：EP23175828.5

    申请日：2023-05-26

    申请人： Ludwig-Maximilians-Universität München

    发明人： Cordes, Thorben ,  Zijlstra, Niels ,  Moya Munoz, Gustavo Gabriel ,  Brix, Oliver

    IPC分类号： G02B21/06 ,  G02B21/16 ,  G02B21/24 ,  G02B21/00

    摘要： Ein Baukastensystem (10) für eine Mikroskopievorrichtung umfasst ein Basismodul (14), ein auf das Basismodul (14) aufgesetztes Detektionsmodul (16, 18) zum Detektieren einer angeregten Fluoreszenz, ein auf das Detektionsmodul (16, 18) aufgesetztes Anregungsmodul (20, 22) zum Erzeugen der Fluoreszenz in einer Probe und ein auf das Anregungsmodul (20, 22) aufgesetztes Probenmodul (24), welches dazu ausgelegt ist, die Probe aufzunehmen. Das Baukastensystem (10) umfasst zumindest ein Basismodul (14) sowie zumindest ein Probenmodul (24). Ferner umfasst das Baukastensystem (10) mehrere Anregungsmodule (20, 22), wobei die mehreren Anregungsmodule (20, 22) eine unterschiedliche Art und/oder Anzahl an Anregungsquellen sowie eine Anregungsoptik aufweisen. Zudem umfasst das Baukastensystem (10) mehrere Detektionsmodule (16, 18), wobei die mehreren Detektionsmodule (16, 18) eine unterschiedliche Art und/oder Anzahl an Detektionselementen sowie eine Detektionsoptik aufweisen. Die Detektionsmodule (16, 18) und die Anregungsmodule (20, 22) des Baukastensystems (10) besitzen jeweils einheitliche Verbindungsschnittstellen, um jedes der Anregungsmodule (20, 22) mit jedem der Detektionsmodule (16, 18) miteinander verbinden zu können.
    Ferner wird eine Mikroskopievorrichtung und ein Verfahren zum Herstellen einer Mikroskopievorrichtung angegeben.