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公开(公告)号:JP6355630B2
公开(公告)日:2018-07-11
申请号:JP2015520167
申请日:2013-03-15
发明人: ジョアンナ・レーダー , ハインリッヒ・レーダー
IPC分类号: G01N27/62
CPC分类号: H01J49/0036 , A61K39/00 , A61K39/0011 , G01N33/57438 , G01N33/6851 , G01N2800/52 , G06F19/00 , G06F19/18 , G06F19/24 , G16H50/50 , Y02A90/22 , Y02A90/26
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公开(公告)号:JP6353837B2
公开(公告)日:2018-07-04
申请号:JP2015530865
申请日:2014-08-04
申请人: 第一三共株式会社
CPC分类号: G01N33/487 , G01N33/50 , G01N33/5308 , G01N2400/40 , G01N2800/085 , G01N2800/52 , H01J49/0036
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公开(公告)号:JP2018059949A
公开(公告)日:2018-04-12
申请号:JP2017255162
申请日:2017-12-29
发明人: ロナルド ボナー , スティーブン テイト , ルドルフ エベルゾルト , ペドロ ホセ ナバーロ アルバレス , オリヴァー リナー , ルーカス ライター , ルドウィチ ギレット
CPC分类号: H01J49/0036 , G01N30/7233 , G16C20/20 , G16C20/90 , H01J49/0031 , H01J49/004 , H01J49/0045 , H01J49/42
摘要: 【課題】生成イオンスペクトルのデータ独立取得および参照スペクトルライブラリ照合の提供。 【解決手段】システムおよび方法は、試料の全検出可能化合物の全生成イオンスペクトルの電子記録を記憶するために使用される。複数の生成イオンスキャンは、複数の質量選択窓を使用して、ある質量範囲にわたる単一の試料分析において1回以上タンデム質量分析計上で実施される。各質量選択窓に対する全検出可能化合物の全試料生成イオンスペクトルが生成される。各質量選択窓に対する全試料生成イオンスペクトルは、プロセッサを使用してタンデム質量分析計から受信される。各質量選択窓に対する全試料生成イオンスペクトルは、プロセッサを使用して試料の全検出可能化合物の電子記録として記録される。電子記録は、電子記録が記憶される時に既知の化合物を特徴づけるために使用され、電子記録が記憶された後、既知となった化合物を特徴づけるためにも使用される。 【選択図】図4
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公开(公告)号:JP6310431B2
公开(公告)日:2018-04-11
申请号:JP2015196432
申请日:2015-10-02
申请人: レコ コーポレイション , LECO CORPORATION
发明人: ヤロシンスキ,ジョナサン , ウィリス,ピーター・マーケル
CPC分类号: H01J49/0036 , H01J49/406
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公开(公告)号:JP6263132B2
公开(公告)日:2018-01-31
申请号:JP2014559220
申请日:2013-02-28
发明人: ノルベルト・ロルフ
IPC分类号: G01N27/62
CPC分类号: H01J49/0036 , H01J49/0009 , H01J49/0031 , H01J49/26 , H01J49/28
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公开(公告)号:JP6247261B2
公开(公告)日:2017-12-13
申请号:JP2015171805
申请日:2015-09-01
申请人: レコ コーポレイション , LECO CORPORATION
发明人: フェレンチコフ,アナトリー
CPC分类号: H01J49/282 , H01J49/0031 , H01J49/0036 , H01J49/062 , H01J49/40 , H01J49/401 , H01J49/406 , H01J49/4245
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公开(公告)号:JP2017211762A
公开(公告)日:2017-11-30
申请号:JP2016103425
申请日:2016-05-24
申请人: 富士通株式会社 , 国立研究開発法人理化学研究所
IPC分类号: G06F17/30
CPC分类号: G06F17/30946 , G01N33/4833 , H01J49/0036
摘要: 【課題】データの分類の精度を高める。 【解決手段】物理的な指標値にそれぞれが対応づけられた、検出強度に関する複数のデータをそれぞれが含む複数のデータ群を取得し、前記複数のデータ群それぞれの識別情報と、前記物理的な指標値とに基づき、前記複数のデータ群に含まれる複数のデータを複数のクラスタに分類する、処理をコンピュータが実行する。 【選択図】図2
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公开(公告)号:JP6223433B2
公开(公告)日:2017-11-01
申请号:JP2015512142
申请日:2013-04-19
发明人: コリングス, ブルース アンドリュー , ディーマ, マーシャン , イボセフ, ゴルダナ
CPC分类号: H01J49/0027 , H01J49/0009 , H01J49/025 , G01T1/171 , H01J49/0036
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公开(公告)号:JP6204971B2
公开(公告)日:2017-09-27
申请号:JP2015502499
申请日:2013-03-21
发明人: ネイセン,タマラ マテア エリザベート , ダンジェロ,マリーナ
IPC分类号: G01N27/62
CPC分类号: G01N30/86 , G01N30/8617 , G01N30/8634 , G06K9/00503 , H01J49/0036
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公开(公告)号:JP2017517731A
公开(公告)日:2017-06-29
申请号:JP2016569423
申请日:2015-05-28
申请人: メタボロン,インコーポレイテッド
发明人: ダイ,ホンピン , ドナルド デハヴェン,コリー , ドナルド デハヴェン,コリー
IPC分类号: G01N27/62
CPC分类号: H01J49/0036 , G01N30/8634 , G01N30/8644 , G01N33/6848 , H01J49/04
摘要: 成分分離/質量分析システムからのサンプルデータを分析するための方法、装置、コンピュータ可読記憶媒体である。プロファイルプロットは、各サンプに対して形成され、それぞれ保持時間軸と強度軸とを有し、強度は、選択されたサンプルのイオン質量に対して保持時間の関数として表されている。それぞれがピーク範囲と特徴的強度とを有する少なくとも1つの特定ピークを含む強度ピーク配置は、各サンプルに対するプロファイルプロットにおける選択されたイオンに対して特定される。プロファイルプロットに対応する直交プロットは、各サンプルに対して、強度軸に垂直な保持時間軸に沿って広がり、形成される。少なくとも1つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度は、直交プロットの保持時間軸に段階的表示で表される。【選択図】図7
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