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公开(公告)号：JP2018105620A
公开(公告)日：2018-07-05
申请号：JP2016248848
申请日：2016-12-22
Applicant: 株式会社豊田中央研究所
IPC: G01N27/83
Abstract: 【課題】被検査体の疵に対して信号対雑音比(S/N比)が高い漏洩磁束探傷方法を提供する。 【解決手段】被検査体を磁化する第1磁化器30と、被検査体の磁化を補助する補助磁化を行う第2磁化器32と、第1磁化器30により被検査体が磁化されている期間において被検査体からの漏洩磁束を検出するホールセンサ33と、を備える漏洩磁束探傷装置を用いる。 【選択図】図2
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