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公开(公告)号：JP2021081347A
公开(公告)日：2021-05-27
申请号：JP2019210123
申请日：2019-11-21
Applicant: 株式会社豊田中央研究所
Abstract: 【課題】 電極の活物質層の目付量を非破壊かつ高精度で測定することのできる目付量測定装置および電極の製造方法を提供することである。 【解決手段】 目付量測定装置100は、電極N1に超音波を送信する超音波送信部111と、電極N1を透過した超音波を受信する超音波受信部112と、活物質層の膜厚を測定する第1変位計121および第2変位計122と、超音波受信部112が受信した超音波から活物質層の目付量と膜厚との積を算出する目付量膜厚積算出部137と、目付量膜厚積算出部137が算出した目付量と膜厚との積と、第1変位計121および第2変位計122が測定した膜厚と、から活物質層の目付量を算出する目付量算出部139と、を含む。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP2020202152A
公开(公告)日：2020-12-17
申请号：JP2019110345
申请日：2019-06-13
Applicant: 株式会社豊田中央研究所
IPC: H01M4/1393
Abstract: 【課題】 電極の活物質層の内部における結着剤の含有比率を非破壊検査する電極の検査方法および電極の製造方法を提供することである。 【解決手段】 この電極の製造方法では、電極N1における炭素材料を含有する活物質層N1bにセミリジッドケーブル100のコイル部110を活物質層N1bに非接触で対面させて配置する。セミリジッドケーブル100のコイル部110に高周波の入力信号を送信する。活物質層N1bに渦電流I2を誘起する。その渦電流I2により発生する反射信号を検出する。入力信号および反射信号から結着剤の成分比を算出する。そして、結着剤の成分比が予め定めた第1閾値以上第2閾値以下の場合に、その電極N1を次の製造工程に送り、結着剤の成分比が予め定めた第1閾値未満または第2閾値より大きい場合に、その電極N1を次の製造工程に送らない。 【選択図】図5
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公开(公告)号：JP2017058180A
公开(公告)日：2017-03-23
申请号：JP2015181644
申请日：2015-09-15
Applicant: 株式会社豊田中央研究所 , 国立大学法人名古屋大学
IPC: G01R27/26
Abstract: 【課題】非磁性体である計測対象物の誘電率を計測する誘電率計測装置において、計測対象物の誘電率を局所的に容易に計測でき、かつ、分解能を高くできる構成を提供することである。 【解決手段】誘電率計測装置10は、U字形の基板上に沿ってU字形に配置され信号を伝送する信号伝送線路22を有し、信号伝送線路22の頂部が検出部Tであるセンサ部材20と、信号を出力する信号源12と、信号伝送線路22の一端に入力され検出部Tで反射した信号を用いて検出部の信号伝送特性を取得及び記録する特性記録部40と、検出部に計測対象物が接触した状態における検出部の信号伝送特性に基づく特性値と予め設定された誘電率及び特性値の関係とに基づいて、計測対象物において検出部が接触した位置の誘電率を算出する演算部50とを含む。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP2019051550A
公开(公告)日：2019-04-04
申请号：JP2017178853
申请日：2017-09-19
Applicant: 株式会社豊田中央研究所 , 愛知製鋼株式会社
IPC: B22D11/04 , B22D11/16 , G01F23/284 , G01S13/88 , G01S13/08 , B22D11/108
Abstract: 【課題】モールドパウダー層の厚さ計測装置において、小型の装置により高い精度で、粉末層及び溶融層の一方または両方の厚さを計測可能とすることである。 【解決手段】厚さ計測装置10は、鋳型50内の溶鋼56上におけるモールドパウダーの粉末層52の表面52aにマイクロ波を発信し、マイクロ波の反射波の振幅及び位相を複数の周波数のそれぞれについて計測し、計測した結果を逆フーリエ変換によって時間軸情報に変換し、時間軸情報に基づく距離情報から得た、モールドパウダーの粉末層52の表面52a、及び、粉末層52とモールドパウダーの溶融層54との界面52bの位置と、溶鋼の湯面57の位置とに基づいて、モールドパウダーの粉末層52及び溶融層54の厚さの一方または両方を計測する。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP2020071208A
公开(公告)日：2020-05-07
申请号：JP2018207714
申请日：2018-11-02
Applicant: 株式会社豊田中央研究所
IPC: G01N25/00
Abstract: 【課題】基材上に膜が形成された計測対象に対し、膜の目付量と厚さとを、簡易な構成で正確に得られるようにする。 【解決手段】膜計測装置12は、基材16の表面の法線NLに対し傾斜した方向から基材のはみ出し部分16Hと塗工膜18(膜)とにレーザLLを照射して加熱するレーザ加熱源22(加熱部材)と、レーザLLが照射された照射領域における温度の二次元分布を計測するサーモグラフィカメラ24(温度計測部材)と、計測された塗工膜18の温度上昇特性から目付量を導出する目付量導出部材と、はみ出し部分16Hと塗工膜18とにおける昇温位置の相対位置から塗工膜18の厚みを導出する膜厚導出部材と、を有する。 【選択図】図3
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP2021124309A
公开(公告)日：2021-08-30
申请号：JP2020016130
申请日：2020-02-03
Applicant: 株式会社豊田中央研究所 , トヨタ自動車株式会社
Abstract: 【課題】本発明の目的は、導体の表面に付着した異物を空洞共振器を用いて検出することである。 【解決手段】空洞共振器1は、矩形導波管10と、矩形導波管10の両端に設けられた端壁20と、矩形導波管10の管壁における一部の領域を欠損させた欠損領域123とを有している。検査対象物である薄膜導体50は、欠損領域123を覆った状態で搬送される。空洞共振器1の共振特性の変化に基づいて、薄膜導体50の表面に異物があるか否かが検査される。 【選択図】図2
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公开(公告)号：JP2021030149A
公开(公告)日：2021-03-01
申请号：JP2019152503
申请日：2019-08-23
Applicant: 株式会社豊田中央研究所 , トヨタ自動車株式会社
Abstract: 【課題】 第1ロールと第2ロールとの間で材料を押圧するロール対における第1ロールおよび第2ロールの形状またはその変化量を測定することのできるロール変位測定装置およびロール変位測定方法および塗工装置を提供することである。 【解決手段】 撮像部1500は、第1ロール1100の第1側面111と第1の印M1と、第2ロール1200の第2側面1211と第2の印M2と、を撮像する。制御部1900は、半径関数導出部1950を有する。半径関数導出部1950は、第1ロール1100の回転中心から第1外周部1110までの第1半径関数と、第2ロール1200の回転中心から第2外周部1210までの第2半径関数と、を導出する。 【選択図】図3
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公开(公告)号：JP2020123492A
公开(公告)日：2020-08-13
申请号：JP2019014683
申请日：2019-01-30
Applicant: 株式会社豊田中央研究所
Abstract: 【課題】電極シートの電極層のバインダ比率を高速かつ精度良く計測することができるようにする。 【解決手段】一対の第1面及び第2面を有する電極シートであって、加熱部110が、第1面及び第2面の少なくとも一方に結着剤を含む電極層が形成された電極シートの第1面を加熱し、温度測定部120が、第2面の温度を測定し、バインダ比率推定部150が、熱拡散率算出部130により第1面を加熱する前後の第2面の温度変化に基づいて算出した熱拡散率に基づいて、電極層における結着剤の構成比率であるバインダ比率を推定する。 【選択図】図3
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公开(公告)号：JP2018013452A
公开(公告)日：2018-01-25
申请号：JP2016144572
申请日：2016-07-22
Applicant: 株式会社豊田中央研究所
IPC: G01N22/00
Abstract: 【課題】単一のアンテナによって計測対象物の複素比誘電率を非接触かつ高精度で計測する。 【解決手段】電磁波を放射及び受信可能な高周波アンテナ12と、高周波アンテナ12へ高周波信号を出力する高周波信号源10と、高周波アンテナ12のセンサ面と計測対象物102の表面との間の距離を変えるステージ14と、計測対象物102に対して高周波アンテナ12から電磁波を放射し、高周波アンテナ12によって受信された計測対象物102からの反射信号を処理する処理部18と、を備え、反射信号特性が未知の対象物を計測対象物102として計測された反射信号と、反射信号特性が既知の対象物を計測対象物102として計測された反射信号とを用いて、高周波アンテナ12のセンサ面に対する校正面と計測対象物102の距離の差による反射信号の計測誤差を低減する、又は、周辺の反射物の影響による計測誤差を低減する処理を行う。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP2021056217A
公开(公告)日：2021-04-08
申请号：JP2020155522
申请日：2020-09-16
Applicant: 株式会社豊田中央研究所
Abstract: 【課題】基材上に膜が形成された計測対象に対し、計測対象を破壊することなく、膜に含まれるバインダー量を簡易な構成で評価可能な計測装置を提供する。 【解決手段】計測装置20は、集電体52のシート表面52A上にバインダーを含む電極膜54が形成された電極シート50に対して用いられる計測装置であって、電極シート50を厚み方向に加圧して電極シート50を撓ませる加圧装置22と、加圧装置22による電極シート50の撓み量を計測する変位計測装置24と、変位計測装置24で計測された撓み量から電極膜54に含まれるバインダー量を評価する評価装置26と、を備える。 【選択図】図1
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