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    放射線診断装置及び方法
    2.
    发明专利
    放射線診断装置及び方法 审中-公开

    公开(公告)号：JP2018057655A

    公开(公告)日：2018-04-12

    申请号：JP2016198354

    申请日：2016-10-06

    Applicant: キヤノンメディカルシステムズ株式会社

    Inventor： 加藤 徹 ,  中井 宏章

    IPC: A61B6/03

    CPC classification number: A61B6/585 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4035 ,  A61B6/405 ,  A61B6/4233 ,  A61B6/4241 ,  A61B6/482 ,  A61B6/5205 ,  A61B6/54 ,  A61B6/542 ,  G21K1/10

    Abstract: 【課題】キャリブレーションを正確かつ簡便に実施することができる放射線診断装置及び方法を提供すること。 【解決手段】実施形態の放射線診断装置は、光子計数型の放射線検出器と、校正部と、画像生成部とを備える。光子計数型の放射線検出器は、放射線を検出して検出信号を出力する検出素子を複数有する。校正部は、各検出素子によって出力された複数の放射線照射条件の複数の信号を用いた演算処理の結果に基づいて特徴点を特定し、前記特徴点を用いて算出した補正値を用いて、各検出素子の検出信号を校正する。画像生成部は、校正された前記各検出素子の検出信号を用いて、画像を生成する。 【選択図】図1

    X線検出器、イメージング装置及び較正方法
    3.
    发明专利
    X線検出器、イメージング装置及び較正方法 有权

    公开(公告)号：JP6277331B1

    公开(公告)日：2018-02-07

    申请号：JP2017530288

    申请日：2015-12-09

    Applicant: コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ ,  KONINKLIJKE PHILIPS N.V.

    Inventor： レッスル,エヴァルト ,  デール,ハイナー

    IPC: G01T1/24 ,  G01T7/00

    CPC classification number: G01T1/24 ,  A61B6/585 ,  G01T7/005 ,  H01J35/02 ,  H05G1/08

    Abstract: 本発明は、X線検出器であって、半導体レイヤのバンドギャップエネルギー特性によって入射放射線を電気測定信号に変換するための複数のピクセルを有する直接変換する半導体レイヤであって、入射放射線はX線ソースによって発せられたX線放射線又は少なくとも1つの光源によって発せられた光である、半導体レイヤを有するX線検出器に関する。さらに、第1の強度の少なくとも1つの光源からの光が半導体レイヤに結合される際にピクセル毎又はピクセルグループ毎に生成される第1の電気測定信号と、第2の強度の少なくとも1つの光源からの光が半導体レイヤに結合される際にピクセル毎又はピクセルグループ毎に生成される第2の電気測定信号とからピクセル毎又はピクセルグループ毎に評価信号を計算する評価ユニットが提供され、評価ユニットは第1及び第2の電気測定信号においてノイズピークをピクセル毎又はピクセルグループ毎に検出し、検出されたノイズピークからピクセル毎又はピクセルグループ毎にオフセット及びゲインを決定するよう構成される。X線放射線が半導体レイヤに入射する際に生成される電気測定信号から検出信号を決定する検出ユニットが備えられ、評価信号に基づき検出ユニットを較正する較正ユニットが備えられる。

    放射線画像撮影システム
    4.
    发明专利
    放射線画像撮影システム 审中-公开

    公开(公告)号：JP2017225724A

    公开(公告)日：2017-12-28

    申请号：JP2016125457

    申请日：2016-06-24

    Applicant: コニカミノルタ株式会社

    Inventor： ▲高▼木 達也 ,  松本 洋日 ,  柳沢 健一

    IPC: A61B6/00

    CPC classification number: G06T5/002 ,  A61B6/4266 ,  A61B6/4435 ,  A61B6/505 ,  A61B6/5211 ,  A61B6/5241 ,  A61B6/5252 ,  A61B6/5258 ,  A61B6/582 ,  A61B6/588 ,  G06T5/005 ,  G06T5/50 ,  A61B6/4283 ,  A61B6/585 ,  G06T2207/10116 ,  G06T2207/20224 ,  G06T2207/30008

    Abstract: 【課題】1ショット長尺撮影で得られた各画像を的確に画像補正する。 【解決手段】放射線画像撮影システム50は、スジ成分除去処理を行って画像の画像補正処理を行う画像処理装置Cを備え、スジ成分除去処理は、画像中に設定したスジ成分を含む領域に対して、水平方向に平滑化を行うローパスフィルターにより平滑化を行って平滑化画像を形成する平滑化処理と、平滑化画像から、スジ成分を含む領域に垂直方向に補間処理を行って得られた補間処理画像を減じてスジ画像を抽出し、画像中に設定したスジ成分を含む領域に対してスジ画像を加算してスジ成分の除去を行うスジ画像抽出処理とを含み、平滑化処理は、画像中に設定したスジ成分を含む領域内に存在する、水平方向に延在する構造物を示す画素に対して、当該構造物を示す画素以外の画素に比べて、水平方向のサイズが大きなローパスフィルターによる平滑化を反映する処理を行う。 【選択図】図22

    可動式格子を含む微分位相コントラスト撮像装置
    10.
    发明专利
    可動式格子を含む微分位相コントラスト撮像装置 有权
    包括可动光栅微分相位衬度成像装置

    公开(公告)号：JP2016531659A

    公开(公告)日：2016-10-13

    申请号：JP2016528891

    申请日：2014-09-16

    Applicant: コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. ,  コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V.

    Inventor： ヴィシュマン，ハンス−アロイス ,  レッスル，エヴァルト

    IPC: A61B6/00

    CPC classification number: A61B6/484 ,  A61B6/03 ,  A61B6/06 ,  A61B6/4035 ,  A61B6/4078 ,  A61B6/4208 ,  A61B6/4291 ,  A61B6/4435 ,  A61B6/502 ,  A61B6/547 ,  A61B6/585 ,  G21K1/025 ,  G21K1/06 ,  G21K2207/005

    Abstract: X線微分位相コントラスト撮像装置(10)であって、当該装置は、X線ビームを生成するX線源(20)と;非コヒーレントX線源(20)からコヒーレントX線ビームを生成する線源格子(G0)と;コヒーレントX線ビームを、対象物(14)を通過させるための複数の扇形状X線ビーム(28)に分割するコリメータ(22)と;干渉縞を生成する位相格子(G1)及び対象物(14)の後ろに構成された干渉縞からモアレパターンを生成する吸収格子(G2)と;位相格子(G1)及び吸収格子(G2)によって、対象物(14)を通過する扇形状X線ビーム(28)から生成されたモアレパターンを検出するライン検出器(24)と;を有する。X線源(20)、線源格子(G0)、コリメータ(22)、位相格子(G1)、吸収格子(G2)、及びライン検出器(24)は、共通のガントリ(12)に固定されるとともに対象物(14)に対して移動可能にされ、それによって、ガントリの異なる位置からの複数の干渉縞が、対象物(14)の微分位相画像を再構成するために検出可能となる。少なくとも1つの格子(G0,G1,G2)が、交互に配置される態様で、格子線(34)のグループ(36)及び透過性領域(38)を含む。少なくとも1つの格子(G0,G1,G2)は、ガントリ(12)に対して移動可能にされ、それによって、格子(G1,G2)の第1の位置で、扇形状X線ビーム(28)が格子線(34)を通過し、格子(G1,G2)の第2の位置で、扇形状X線ビーム(28)は、透過性領域(38)を通過する。

    Abstract translation: 一种X射线微分相位对比成像设备（10），该装置，用于产生X射线束的X射线源（20）;源极，用于从非相干X射线源产生一个相干的X射线束（20） 光栅（G0）;相干的X射线束，准直器被分成多个扇形X射线束（28）的用于使所述物体（14）和（22）;相位光栅，以产生干涉图案（G1 ），从干涉条纹的对象（14）被配置的吸收光栅，用于产生波纹图案（G2）的后面;相位光栅（G1）和吸收光栅（G2），一风扇通过物体（14） 具有;用于检测来自所述形状的X射线束（28）和（24）所生成的莫尔图案线检测器。 X射线源（20），源光栅（G0），准直器（22），相位光栅（G 1），所述吸收光栅（G2），和一个线检测器（24）被固定到一个共同的台架（12） 一起相对于所述对象（14），由此多个从扫描架的不同位置的干涉条纹，能以重建所述对象（14）的微分相位图像中检测移动。 至少一个光栅（G0，G1，G2）中的方式来交替地排列，包括组（36）和所述网格线（34）的透明区域（38）。 至少一个光栅（G0，G1，G2）可相对于机架（12），由此，在所述光栅（G1，G2）的第一位置，扇形的X射线束（28） 通过网格线（34），在所述光栅（G1，G2）的第二位置，扇形的X射线束（28）穿过可渗透区域（38）。

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