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    石炭の表面張力推定方法およびコークスの製造方法
    1.
    发明专利
    石炭の表面張力推定方法およびコークスの製造方法 有权

    公开(公告)号：JPWO2021085145A1

    公开(公告)日：2021-12-16

    申请号：JP2020038828

    申请日：2020-10-14

    申请人： JFEスチール株式会社

    发明人： 井川 大輔 ,  土肥 勇介 ,  松井 貴

    IPC分类号： G01N13/00 ,  C10B57/04 ,  G01N33/22

    摘要： 簡便に石炭の表面張力を推定する方法を提供する。 石炭の表面張力推定方法であって、複数の銘柄の石炭における表面張力、石炭化度を表す物性値および全イナート量を重回帰分析し、目的変数を石炭の表面張力とし、説明変数として前記物性値および前記全イナート量を含む回帰式を予め作成しておき、表面張力を推定する石炭の前記物性値と全イナート量とを測定し、測定された前記物性値および前記全イナート量と前記回帰式とを用いて石炭の表面張力を算出する。

    樹脂成形品の軋み音評価方法
    3.
    发明专利
    樹脂成形品の軋み音評価方法 有权

    公开(公告)号：JP6804682B1

    公开(公告)日：2020-12-23

    申请号：JP2020099646

    申请日：2020-06-08

    申请人： テクノUMG株式会社

    发明人： 石川 浩司 ,  北口 博紀 ,  渡邉 篤史

    IPC分类号： G01N33/44 ,  G01N13/00

    摘要： 【課題】樹脂成形品どうしが動的に接触した際に発生する軋み音の程度を評価する方法を提供する。 【解決手段】Owens and Wendt法により、樹脂成形品10、20の表面における表面自由エネルギーと、表面自由エネルギーの極性成分及び分散成分とを求め、その後、極性パラメーター及び表面自由エネルギーの各値により軋み音を評価する。 【選択図】なし

    気液界面積の算出方法及びガス吹込み口の位置設計方法
    4.
    发明专利
    気液界面積の算出方法及びガス吹込み口の位置設計方法 审中-公开

    公开(公告)号：JP2020131175A

    公开(公告)日：2020-08-31

    申请号：JP2019032448

    申请日：2019-02-26

    申请人： 住友金属鉱山株式会社

    发明人： 本間 剛秀 ,  内藤 大志

    IPC分类号： G01N13/00 ,  B01F3/04

    摘要： 【課題】撹拌反応槽における気泡の実際の挙動及び撹拌翼の撹拌動力の低下及び気液反応の進行に伴う物性値の変化による影響を考慮して、従来法よりも精度の高い気液界面積の算出方法を提供する。 【解決手段】本発明は撹拌翼を備える気液撹拌槽内の気液界面積の算出方法であり、相間交換係数算出工程と、補正関数算出工程と、補正相間交換係数算出工程と、補正相間交換係数に基づく撹拌動力計算値と撹拌動力補正実測値との対比結果及び撹拌動力計算値の算出に用いた基本物性値と補正物性値との対比結果が閾値内であるか判断する対比工程と、調整補正関数算出工程と、気液界面積算出工程と、を含み、補正関数算出工程において、補正関数としてη=max[min{(1+q−r d ) p ,1},m](ηは補正関数、r d は気泡の体積分率であり、0.1≦q≦0.5、0.1≦m≦0.3、p=−1,−0.5,0,2,4のいずれかである。)の式を用いる。 【選択図】図1

    固体表面からの原子の脱離プロセスの評価方法
    6.
    发明专利
    固体表面からの原子の脱離プロセスの評価方法 审中-公开

    公开(公告)号：JP2019191088A

    公开(公告)日：2019-10-31

    申请号：JP2018086747

    申请日：2018-04-27

    申请人： 住友金属鉱山株式会社

    发明人： 吉尾 里司

    IPC分类号： G01N17/00 ,  G01N13/00

    摘要： 【課題】固体表面と、該固体表面を曝露する曝露雰囲気との界面における原子の脱離プロセスを評価できる、固体表面からの原子の脱離プロセスの評価方法を提供する。 【解決手段】評価に供する固体表面を選択する評価面選択工程と、 前記固体表面を曝露する曝露雰囲気を選択する曝露雰囲気選択工程と、 前記固体表面と、前記曝露雰囲気との界面の初期の構造状態である初期界面構造を規定する界面状態規定工程と、 分子動力学法により、前記初期界面構造からの界面の構造状態の変化を追跡し、前記固体表面から、前記曝露雰囲気への原子の脱離過程を評価する追跡・評価工程とを有する固体表面からの原子の脱離プロセスの評価方法。 【選択図】図2