公开(公告)号：KR1020160014052A

公开(公告)日：2016-02-05

申请号：KR1020157036956

申请日：2014-06-03

申请人： 마이톤 일렉트로닉 게엠베하

发明人： 마이어,파울 ,  테겔후터,슈테판 ,  비테,우도

IPC分类号： F41J5/02 ,  F41J1/00 ,  G01B11/03 ,  G01V8/10

CPC分类号： F41J5/02

摘要： 본발명은타깃표면(102)을통과하는총알(134)의관통위치를비접촉식으로광학검출하기위한측정프레임(106)에관한것이다. 또한, 본발명은관련측정및 평가방법에관한것이다. 본발명은또한적어도하나의이러한측정프레임(106)을사용하는디스플레이시스템에관한것이다. 측정프레임은제 1 발산방사선필드를방출하기위한적어도하나의제 1 방사선소스(120), 및제 2 발산방사선필드를방출하기위한적어도하나의제 2 방사선소스를포함하며, 상기제 1 및제 2 방사선필드는관통방향에대해수직인평면에서특정각도로교차한다. 상기측정프레임은또한상기적어도하나의제 1 및제 2 방사선소스에각각할당된적어도하나의제 1 광학수신장치(126) 및적어도하나의제 2 광학수신장치(126')를포함한다. 상기광학수신장치의각각은광학수신소자들의어레이를포함하며, 상기광학수신소자들은검출될총알로인해공간적으로연장되는셰이딩위치가결정되도록평가될수 있다.

公开(公告)号：KR101857589B1

公开(公告)日：2018-05-14

申请号：KR1020157036956

申请日：2014-06-03

申请人： 마이톤 일렉트로닉 게엠베하

发明人： 마이어,파울 ,  테겔후터,슈테판 ,  비테,우도

IPC分类号： F41J5/02 ,  F41J1/00 ,  G01B11/03 ,  G01V8/10

CPC分类号： F41J5/02

摘要： 본발명은타깃표면(102)을통과하는총알(134)의탄착위치를비접촉식으로광학검출하기위한측정프레임(106)에관한것이다. 또한, 본발명은관련측정및 평가방법에관한것이다. 본발명은또한적어도하나의이러한측정프레임(106)을사용하는디스플레이시스템에관한것이다. 측정프레임은제 1 발산방사선필드를방출하기위한적어도하나의제 1 방사선소스(120), 및제 2 발산방사선필드를방출하기위한적어도하나의제 2 방사선소스를포함하며, 상기제 1 및제 2 방사선필드는탄착방향에대해수직인평면에서특정각도로교차한다. 상기측정프레임은또한상기적어도하나의제 1 및제 2 방사선소스에각각할당된적어도하나의제 1 광학수신장치(126) 및적어도하나의제 2 광학수신장치(126')를포함한다. 상기광학수신장치의각각은광학수신소자들의어레이를포함하며, 상기광학수신소자들은검출될총알로인해공간적으로연장되는셰이딩위치가결정되도록평가될수 있다.