Abstract:
근적외선에 의한 복사 전열 가열이 행해지는 금속판의 표면의 일부에, 복사선의 반사율을 원래의 금속판의 표면보다도 저하시킨 영역을 형성한다. 반사율 저감 처리로서는, 흑색계의 도장 또는 용사, 흑색계의 도금, 금속판의 표면 조도를 거칠게 하는 처리, 블라스트 처리, 에칭 처리, 흑색화 처리, 금속판의 표층면의 재료 변경 처리 등을 채용할 수 있다. 그리고 그 금속판을 복사 전열 가열함으로써 부분적으로 온도가 다른 가열 금속판으로 한 후, 예를 들어 핫 스탬프에 의해 냉각을 수반하는 열처리 가공을 행한다.
Abstract:
아연 도금 강판(W)을 냉각할 때에, 아연의 비점 미만, 또한 페라이트 변태 온도 이상의 온도 영역 내에서, 아연 도금 강판(W)의 표면의 방사율의 변화를, 관찰 파장이 1.4㎛ 이상인 방사율 측정기(4)에 의해 측정하고, 프레스 ?칭 장치(2)에서의 프레스 및 ?칭을, 방사율의 변화에 기초하여 합금화 반응의 종료를 검출한 후에 개시한다. 방사율 측정기(4)는 측정 소자가 InGaAs 소자 또는 서모파일인 것이 바람직하다.
Abstract:
In a cooling a galvanized steel sheet (W), change in emissivity of a surface of the galvanized steel sheet (W) is measured in a temperature range lower than the boiling point of zinc but not lower than the ferrite transformation temperature, using an emissivity sensor (4) with an observation wavelength of 1.4 µm or longer, and pressing and quenching in a pressing and quenching apparatus (2) is started after completion of an alloying reaction has been detected based on the change in emissivity. The emissivity sensor (4) preferably has an InGaAs element or a thermopile as a measuring element.
Abstract:
근적외선에 의한 복사 전열 가열이 행해지는 금속판의 표면의 일부에, 복사선의 반사율을 원래의 금속판의 표면보다도 저하시킨 영역을 형성한다. 반사율 저감 처리로서는, 흑색계의 도장 또는 용사, 흑색계의 도금, 금속판의 표면 조도를 거칠게 하는 처리, 블라스트 처리, 에칭 처리, 흑색화 처리, 금속판의 표층면의 재료 변경 처리 등을 채용할 수 있다. 그리고 그 금속판을 복사 전열 가열함으로써 부분적으로 온도가 다른 가열 금속판으로 한 후, 예를 들어 핫 스탬프에 의해 냉각을 수반하는 열처리 가공을 행한다.