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公开(公告)号:TWI701202B
公开(公告)日:2020-08-11
申请号:TW106104547
申请日:2017-02-13
申请人: 日商大福股份有限公司 , DAIFUKU CO., LTD.
发明人: 藤尾義彦 , FUJIO, YOSHIHIKO
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公开(公告)号:TWI696576B
公开(公告)日:2020-06-21
申请号:TW105137219
申请日:2016-11-15
申请人: 日商大福股份有限公司 , DAIFUKU CO., LTD.
发明人: 辻知彥 , TSUJI, TOMOHIKO , 淺日一彌 , ASAHI, KAZUYA
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公开(公告)号:TWI694045B
公开(公告)日:2020-05-21
申请号:TW105137395
申请日:2016-11-16
申请人: 日商大福股份有限公司 , DAIFUKU CO., LTD.
发明人: 坂本純一 , SAKAMOTO, JUNICHI , 吉岡秀郎 , YOSHIOKA, HIDEO
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公开(公告)号:TWI690442B
公开(公告)日:2020-04-11
申请号:TW105131654
申请日:2016-09-30
申请人: 日商大福股份有限公司 , DAIFUKU CO., LTD.
发明人: 富田大地 , TOMIDA, DAICHI
IPC分类号: B61B13/00 , H01L21/677
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公开(公告)号:TWI684928B
公开(公告)日:2020-02-11
申请号:TW105115223
申请日:2016-05-17
申请人: 日商大福股份有限公司 , DAIFUKU CO., LTD.
发明人: 西川直 , NISHIKAWA, TADASHI , 山下亮 , YAMASHITA, RYOU
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公开(公告)号:TWI680927B
公开(公告)日:2020-01-01
申请号:TW105126879
申请日:2016-08-23
申请人: 日商大福股份有限公司 , DAIFUKU CO., LTD.
发明人: 大森和哉 , OMORI, KAZUYA
IPC分类号: B65G1/00 , B65G1/14 , H01L21/673
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公开(公告)号:TWI670214B
公开(公告)日:2019-09-01
申请号:TW105113735
申请日:2016-05-03
申请人: 日商大福股份有限公司 , DAIFUKU CO., LTD.
发明人: 吉岡秀郎 , YOSHIOKA, HIDEO , 山崎貴文 , YAMAZAKI, TAKAFUMI
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公开(公告)号:TWI667692B
公开(公告)日:2019-08-01
申请号:TW104136328
申请日:2015-11-04
申请人: 日商大福股份有限公司 , DAIFUKU CO., LTD.
发明人: 高田文人 , TAKADA, AYATO
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公开(公告)号:TWI664691B
公开(公告)日:2019-07-01
申请号:TW104110356
申请日:2015-03-31
申请人: 日商大福股份有限公司 , DAIFUKU CO., LTD.
发明人: 宇佐見誠 , USAMI, MAKOTO , 飯塚雪夫 , IIZUKA, YUKIO
IPC分类号: H01L21/677 , B65G49/07
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公开(公告)号:TW201920945A
公开(公告)日:2019-06-01
申请号:TW107128781
申请日:2018-08-17
申请人: 日商大福股份有限公司 , DAIFUKU CO., LTD.
发明人: 山崎貴文 , YAMAZAKI, TAKAFUMI , 太田弘一 , OTA, KOICHI , 田中芳孝 , TANAKA, YOSHITAKA , 西川智晶 , NISHIKAWA, TOMOAKI , 川波絢佳 , KAWANAMI, AYAKA
IPC分类号: G01N21/93
摘要: [課題]提供一種檢查系統,其可簡化在預先設定之搬送路徑上行走的搬送車所具備之檢測器的檢查的勞務。 [解決手段]一種檢查系統,具備有檢查裝置,前述檢查裝置是將在預先設定之搬送路徑上行走之搬送車所具備之檢測器作為檢查對象,而檢查檢測器之檢測狀態。檢查裝置是配置在與搬送車之行走軌跡不重疊的位置,且是在搬送車位在已設定於搬送路徑上之檢查場所的狀態下成為檢測器之檢測範圍內的位置。
简体摘要: [课题]提供一种检查系统,其可简化在预先设置之搬送路径上行走的搬送车所具备之检测器的检查的劳务。 [解决手段]一种检查系统,具备有检查设备,前述检查设备是将在预先设置之搬送路径上行走之搬送车所具备之检测器作为检查对象,而检查检测器之检测状态。检查设备是配置在与搬送车之行走轨迹不重叠的位置,且是在搬送车位在已设置于搬送路径上之检查场所的状态下成为检测器之检测范围内的位置。
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