用於測試一受試裝置之探針設備、經結構設計以在用於測試一受試裝置之一探針設備中使用之探針心及用於將一探針心閂至一裝置之方法
    3.
    发明专利
    用於測試一受試裝置之探針設備、經結構設計以在用於測試一受試裝置之一探針設備中使用之探針心及用於將一探針心閂至一裝置之方法 审中-公开
    用于测试一受试设备之探针设备、经结构设计以在用于测试一受试设备之一探针设备中使用之探针心及用于将一探针心闩至一设备之方法

    公开(公告)号:TW201903418A

    公开(公告)日:2019-01-16

    申请号:TW107135280

    申请日:2014-12-31

    IPC分类号: G01R1/073

    摘要: 本發明提供一種可相對於一電路板鎖定及解鎖一探針心之閂總成。該閂總成可與該探針心嚙合以相對於一電路板對準該探針心且藉由旋轉而將該探針心向下壓抵於該電路板以鎖定該探針心與該電路板。一安裝工具經提供以將該探針心夾持至一閂總成或一探針心載體或自該閂總成或該探針心載體釋放該探針心。該安裝工具可與該探針心及/或該閂總成對準以相對於一電路板鎖定及解鎖該探針心。

    简体摘要: 本发明提供一种可相对于一电路板锁定及解锁一探针心之闩总成。该闩总成可与该探针心啮合以相对于一电路板对准该探针心且借由旋转而将该探针心向下压抵于该电路板以锁定该探针心与该电路板。一安装工具经提供以将该探针心夹持至一闩总成或一探针心载体或自该闩总成或该探针心载体释放该探针心。该安装工具可与该探针心及/或该闩总成对准以相对于一电路板锁定及解锁该探针心。

    具有一探針裝置之測試系統及轉位機構
    4.
    发明专利
    具有一探針裝置之測試系統及轉位機構 审中-公开
    具有一探针设备之测试系统及转位机构

    公开(公告)号:TW201812329A

    公开(公告)日:2018-04-01

    申请号:TW106143790

    申请日:2012-07-06

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: 本發明揭示一種探針裝置,該探針裝置在一側上具有帶有一觸點圖案之探針導線。該觸點圖案係用於接觸另一測試設備或組件(諸如一電路板)上之一各別觸點圖案。該等探針導線具有探測期望接受測試之一器件之尖端。信號係穿過來自探針卡之該等探針導線(舉例而言,穿過一電路板)傳輸至其他診斷設備。該探針卡與該電路板之該接觸允許使信號穿過該等探針導線傳送至該其他診斷設備。在該探針卡之另一側上係一連接器結構。該連接器結構包含一保持器,該保持器可允許自一測試系統替換該探針卡,諸如允許該探針卡自一固持器連接及斷開連接。

    简体摘要: 本发明揭示一种探针设备,该探针设备在一侧上具有带有一触点图案之探针导线。该触点图案系用于接触另一测试设备或组件(诸如一电路板)上之一各别触点图案。该等探针导线具有探测期望接受测试之一器件之尖端。信号系穿过来自探针卡之该等探针导线(举例而言,穿过一电路板)传输至其他诊断设备。该探针卡与该电路板之该接触允许使信号穿过该等探针导线发送至该其他诊断设备。在该探针卡之另一侧上系一连接器结构。该连接器结构包含一保持器,该保持器可允许自一测试系统替换该探针卡,诸如允许该探针卡自一固持器连接及断开连接。