發光二極體晶片
    4.
    发明专利
    發光二極體晶片 审中-公开
    发光二极管芯片

    公开(公告)号:TW201513393A

    公开(公告)日:2015-04-01

    申请号:TW103120945

    申请日:2014-06-18

    IPC分类号: H01L33/20

    CPC分类号: H01L33/22 H01L33/20

    摘要: 在此揭露發光二極體晶片。發光二極體晶片包括基底以及半導體堆疊,半導體堆疊形成於基底上且包括第一導電型半導體層、主動層以及第二導電型半導體層,半導體堆疊具有第一側面以及設置於第一側面之下方的第二表面,其中第一側面為以平臺蝕刻的半導體堆疊之外側面,第二側面為第一導電型半導體層之外側面,且第一側面及第二側面的至少其中之一具有凸面圖案。因此,本發明之發光二極體晶片能藉凸面圖案改善橫向光提取。

    简体摘要: 在此揭露发光二极管芯片。发光二极管芯片包括基底以及半导体堆栈,半导体堆栈形成于基底上且包括第一导电型半导体层、主动层以及第二导电型半导体层,半导体堆栈具有第一侧面以及设置于第一侧面之下方的第二表面,其中第一侧面为以平台蚀刻的半导体堆栈之外侧面,第二侧面为第一导电型半导体层之外侧面,且第一侧面及第二侧面的至少其中之一具有凸面图案。因此,本发明之发光二极管芯片能藉凸面图案改善横向光提取。

    藉由使用反射層強化發光二極體的光擷取效率
    5.
    发明专利
    藉由使用反射層強化發光二極體的光擷取效率 审中-公开
    借由使用反射层强化发光二极管的光截取效率

    公开(公告)号:TW201424042A

    公开(公告)日:2014-06-16

    申请号:TW102145486

    申请日:2013-12-11

    IPC分类号: H01L33/36

    摘要: 本發明的光擷取效率得到提高的發光二極體包括:半導體積層結構體,其包含形成於基板上的N層、發光層、P層;N型電極,其形成於上述N層;及P型電極,其形成於上述P層;上述發光二極體的特徵在於:上述N型電極及上述P型電極包括焊墊電極與分散電極,且N型電極與上述P型電極中的至少一者於上述分散電極上包含反射光的反射電極層。藉此,發光二極體於電極上包括反射電極層,藉此具有可提高光擷取效率的效果。進而,藉由將反射層圖案化至焊墊部的下部而形成粗糙度,從而具有可提高黏著力的效果。

    简体摘要: 本发明的光截取效率得到提高的发光二极管包括:半导体积层结构体,其包含形成于基板上的N层、发光层、P层;N型电极,其形成于上述N层;及P型电极,其形成于上述P层;上述发光二极管的特征在于:上述N型电极及上述P型电极包括焊垫电极与分散电极,且N型电极与上述P型电极中的至少一者于上述分散电极上包含反射光的反射电极层。借此,发光二极管于电极上包括反射电极层,借此具有可提高光截取效率的效果。进而,借由将反射层图案化至焊垫部的下部而形成粗糙度,从而具有可提高黏着力的效果。