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公开(公告)号:TWI515738B
公开(公告)日:2016-01-01
申请号:TW099137469
申请日:2010-11-01
发明人: 齋藤利彥 , SAITO, TOSHIHIKO
CPC分类号: H01L27/10873 , G11C7/005 , G11C7/24 , G11C11/404 , G11C11/4078 , G11C2211/4013 , H01L27/1225
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公开(公告)号:TW201737250A
公开(公告)日:2017-10-16
申请号:TW106110040
申请日:2017-03-24
申请人: 美光科技公司 , MICRON TECHNOLOGY, INC.
IPC分类号: G11C7/08
CPC分类号: G06F12/0871 , G06F12/0215 , G06F12/0873 , G06F12/0893 , G06F15/7821 , G06F2212/1024 , G06F2212/1028 , G11C7/065 , G11C7/1006 , G11C11/403 , G11C11/4091 , G11C11/4093 , G11C11/4094 , G11C11/4096 , G11C2207/002 , G11C2207/005 , G11C2211/4013
摘要: 本發明包含用於快取操作之裝置及方法。一實例性裝置包含一記憶體器件,其包含記憶體胞之複數個子陣列,其中該複數個子陣列包含各自複數個子陣列之一第一子集及該各自複數個子陣列之一第二子集。該記憶體器件包含耦合至該第一子集之感測電路,該感測電路包含一感測放大器及一運算組件。該第一子集經組態為用於對自該第二子集移動之資料執行操作之一快取記憶體。該裝置亦包含經組態以導引自該第二子集中之一子陣列至該第一子集中之一子陣列之一資料值之一第一移動的一快取控制器。
简体摘要: 本发明包含用于缓存操作之设备及方法。一实例性设备包含一内存器件,其包含内存胞之复数个子数组,其中该复数个子数组包含各自复数个子数组之一第一子集及该各自复数个子数组之一第二子集。该内存器件包含耦合至该第一子集之传感电路,该传感电路包含一传感放大器及一运算组件。该第一子集经组态为用于对自该第二子集移动之数据运行操作之一高速缓存。该设备亦包含经组态以导引自该第二子集中之一子数组至该第一子集中之一子数组之一数据值之一第一移动的一缓存控制器。
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公开(公告)号:TW554344B
公开(公告)日:2003-09-21
申请号:TW091108086
申请日:2002-04-19
申请人: 三菱電機股份有限公司
CPC分类号: G11C7/18 , G11C8/14 , G11C11/4085 , G11C11/4087 , G11C11/4097 , G11C2211/4013 , H01L27/0207 , H01L27/108 , H01L27/1085 , H01L27/10873 , H01L27/10882
摘要: 將形成記憶胞的字線的導電線,和形成記憶胞板電極的導電線,形成在同一配線層上。以平板型電容器構造作為記憶胞電容器,藉以消除電容器的段差。
以CMOS製程,形成動態半導體記憶裝置,以實現適合和邏輯混載的動態半導體記憶裝置。简体摘要: 将形成记忆胞的字线的导电线,和形成记忆胞板电极的导电线,形成在同一配线层上。以平板型电容器构造作为记忆胞电容器,借以消除电容器的段差。 以CMOS制程,形成动态半导体记忆设备,以实现适合和逻辑混载的动态半导体记忆设备。
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公开(公告)号:TW201919058A
公开(公告)日:2019-05-16
申请号:TW107125057
申请日:2018-07-20
发明人: 羅 鐘植 , NA, JONGSIK , 丁 台衡 , JUNG, TAEHYUNG
IPC分类号: G11C11/4074 , G11C11/4094 , G11C11/4096
CPC分类号: G11C11/4096 , G11C5/025 , G11C5/063 , G11C7/02 , G11C11/4074 , G11C11/4076 , G11C11/409 , G11C11/4091 , G11C11/4094 , G11C11/565 , G11C2207/2281 , G11C2211/4013
摘要: 本申請係關於具有寬I/O之DRAM核心架構。一種用於與搭配一顯示器使用之動態隨機存取記憶體(DRAM)包括經耦接以儲存一或多個資料位元之複數個電容性元件,及複數個開關,其中該複數個開關中之至少一個個別開關耦接至該複數個電容性元件中之一個別電容性元件。包括32條或更多輸入/輸出位元線之複數個輸入/輸出(I/O)位元線經耦接以自該複數個電容性元件讀出該資料。複數個行選擇線經耦接以使得能夠讀出該複數個電容性元件。
简体摘要: 本申请系关于具有宽I/O之DRAM内核架构。一种用于与搭配一显示器使用之动态随机存取内存(DRAM)包括经耦接以存储一或多个数据比特之复数个电容性组件,及复数个开关,其中该复数个开关中之至少一个个别开关耦接至该复数个电容性组件中之一个别电容性组件。包括32条或更多输入/输出比特线之复数个输入/输出(I/O)比特线经耦接以自该复数个电容性组件读出该数据。复数个行选择线经耦接以使得能够读出该复数个电容性组件。
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公开(公告)号:TW201140599A
公开(公告)日:2011-11-16
申请号:TW099137469
申请日:2010-11-01
申请人: 半導體能源研究所股份有限公司
发明人: 齋藤利彥
IPC分类号: G11C
CPC分类号: H01L27/10873 , G11C7/005 , G11C7/24 , G11C11/404 , G11C11/4078 , G11C2211/4013 , H01L27/1225
摘要: 一種無額外邏輯電路之記憶體裝置,包括無法被第三者存取且當需要時總可存取之記憶胞。一實施例為包括第一記憶胞及第二記憶胞的記憶體裝置,且第二記憶胞包括具有以氧化物半導體薄膜形成之第二通道的第二電晶體。當第二電晶體正被紫外線照射時,從第二記憶胞讀取資料。
简体摘要: 一种无额外逻辑电路之内存设备,包括无法被第三者存取且当需要时总可存取之记忆胞。一实施例为包括第一记忆胞及第二记忆胞的内存设备,且第二记忆胞包括具有以氧化物半导体薄膜形成之第二信道的第二晶体管。当第二晶体管正被紫外线照射时,从第二记忆胞读取数据。
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公开(公告)号:TWI222643B
公开(公告)日:2004-10-21
申请号:TW092120069
申请日:2003-07-23
IPC分类号: G11C
CPC分类号: H01L27/10882 , G11C7/18 , G11C11/405 , G11C11/4097 , G11C2211/4013 , H01L27/0207 , H01L27/10814
摘要: 在利用2個DRAM單元構成之雙單元(101#)中,在各個雙單元(101#)使單元板(130#)電的隔離。藉由此種構成,在同一雙單元內之記憶互補資料之2個儲存節點(140)之電壓,利用電容耦合進行同樣之變動。
简体摘要: 在利用2个DRAM单元构成之双单元(101#)中,在各个双单元(101#)使单元板(130#)电的隔离。借由此种构成,在同一双单元内之记忆互补数据之2个存储节点(140)之电压,利用电容耦合进行同样之变动。
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公开(公告)号:TW200414194A
公开(公告)日:2004-08-01
申请号:TW092120069
申请日:2003-07-23
IPC分类号: G11C
CPC分类号: H01L27/10882 , G11C7/18 , G11C11/405 , G11C11/4097 , G11C2211/4013 , H01L27/0207 , H01L27/10814
摘要: 在利用2個DRAM單元構成之雙單元(101#)中,在各個雙單元(101#)使單元板(130#)電的隔離。藉由此種構成,在同一雙單元內之記憶互補資料之2個儲存節點(140)之電壓,利用電容耦合進行同樣之變動。
简体摘要: 在利用2个DRAM单元构成之双单元(101#)中,在各个双单元(101#)使单元板(130#)电的隔离。借由此种构成,在同一双单元内之记忆互补数据之2个存储节点(140)之电压,利用电容耦合进行同样之变动。
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公开(公告)号:TW594747B
公开(公告)日:2004-06-21
申请号:TW089117376
申请日:2000-08-28
发明人: 松宮正人 MATSUMIYA, MASATO , 藤岡伸也 SHINYA FUJIOKA , 佐藤公昭 , 宮保徹
IPC分类号: G11C
CPC分类号: G11C7/02 , G11C7/1042 , G11C7/18 , G11C11/406 , G11C11/4097 , G11C2211/4013
摘要: DRAM如此建構以致於待被儲存的資料作為互補資料儲存於一對記憶體晶胞內,且此對記憶體晶胞係響應字線的選取而連接至與一共同讀出放大器連接之一對位元線。亦即,在與讀出放大器與單一字線連接的該對位元線的交叉位置處,安置一對記憶體晶胞;藉選取該字線,互補資料從該對位元線被寫入該對記憶體晶胞,或是互補資料被讀至該對位元線。H準位與L準位被儲存於該對記憶體晶胞內作為一位元的儲存資料,故,如下文所述之實施例所說明者,得以增加讀出靈敏度,且可加長更新週期,或是可降低字線驅動準位,或是加速讀出放大器致動時序能。再者,本發明中包含第一位元線對的位元線與一第二位元線對之位元線交替並圍繞設置;供第一位元線對之讀出放大器係設置於晶胞陣列的其中一側,而供第二位元線對的讀出放大器係設置於晶胞陣列的另一側。與其中一位元線對連接的讀出放大器係根據被選取之字線被致動,與另一位元線對連接的讀出放大器被保持於不活動狀態,且另一位元線對被保持在預先充電準位。經由此一組態,僅有傳統裝置一半的讀出放大器組於讀出或寫入期間被致動,故功率消耗可被降低;再者,另一被保持在預先充電準位的位元線對作為遮蔽被讀出放大器驅動的一位元線對的功用,故位元線間的串擾得以減少,且該一位元線對的讀出放大器的工作容限能增加。
简体摘要: DRAM如此建构以致于待被存储的数据作为互补数据存储于一对内存晶胞内,且此对内存晶胞系响应字线的选取而连接至与一共同读出放大器连接之一对比特线。亦即,在与读出放大器与单一字线连接的该对比特线的交叉位置处,安置一对内存晶胞;藉选取该字线,互补数据从该对比特线被写入该对内存晶胞,或是互补数据被读至该对比特线。H准位与L准位被存储于该对内存晶胞内作为一比特的存储数据,故,如下文所述之实施例所说明者,得以增加读出灵敏度,且可加长更新周期,或是可降低字线驱动准位,或是加速读出放大器致动时序能。再者,本发明中包含第一比特线对的比特线与一第二比特线对之比特线交替并围绕设置;供第一比特线对之读出放大器系设置于晶胞数组的其中一侧,而供第二比特线对的读出放大器系设置于晶胞数组的另一侧。与其中一比特线对连接的读出放大器系根据被选取之字线被致动,与另一比特线对连接的读出放大器被保持于不活动状态,且另一比特线对被保持在预先充电准位。经由此一组态,仅有传统设备一半的读出放大器组于读出或写入期间被致动,故功率消耗可被降低;再者,另一被保持在预先充电准位的比特线对作为屏蔽被读出放大器驱动的一比特线对的功用,故比特线间的串扰得以减少,且该一比特线对的读出放大器的工作容限能增加。
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公开(公告)号:TW200305169A
公开(公告)日:2003-10-16
申请号:TW092105374
申请日:2003-03-12
申请人: 日立製作所股份有限公司 HITACHI, LTD. , 日立超愛爾 愛斯 愛 系統股份有限公司 HITACHI ULSI SYSTEM CO., LTD , 爾必達存儲器股份有限公司 ELPIDA MEMORY, INC.
发明人: 宮武伸一 , 谷一彥 , 宮澤一幸 , 關口知紀 TOMONORI SEKIGUCHI , 竹村理一郎 RICHIRO TAKEMURA , 阪田健 TAKESHI SAKATA
IPC分类号: G11C
CPC分类号: H01L27/108 , G11C7/18 , G11C11/403 , G11C11/406 , G11C11/40615 , G11C11/4097 , G11C2211/4013 , H01L27/0207 , H01L27/10814 , H01L27/10885 , H01L27/10897 , Y10S257/905 , Y10S257/906
摘要: 【課題】本發明半導體記憶裝置為提供,抑制記憶格面積增加,此外得到超高速讀出時間,更當自我更新時,可得到長時間之更新間隔,高集積且超高速,更可以大幅減少資訊保持時之消費電力。【解決手段】1交叉點單元.2單元/位元方式所使用之DRAM,使用1交叉點6F^2之雙單元構造為位元線對BL、BL及字元線對WL所有交叉點之對應位置配置記憶格MC,字元線WL之間隔的一半為F時,位元線對BL、BL之位元線的間隔為大於2F並小於4F。更,記憶格MC之電晶體的源極、通道、汲極所形成矽電路板上動態區域AA,對於位元線對BL、BL方向成為傾斜構成。
简体摘要: 【课题】本发明半导体记忆设备为提供,抑制记忆格面积增加,此外得到超高速读出时间,更当自我更新时,可得到长时间之更新间隔,高集积且超高速,更可以大幅减少信息保持时之消费电力。【解决手段】1交叉点单元.2单元/比特方式所使用之DRAM,使用1交叉点6F^2之双单元构造为比特线对BL、BL及字符线对WL所有交叉点之对应位置配置记忆格MC,字符线WL之间隔的一半为F时,比特线对BL、BL之比特线的间隔为大于2F并小于4F。更,记忆格MC之晶体管的源极、信道、汲极所形成硅电路板上动态区域AA,对于比特线对BL、BL方向成为倾斜构成。
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公开(公告)号:TW201732816A
公开(公告)日:2017-09-16
申请号:TW105138376
申请日:2016-11-23
申请人: 格羅方德半導體公司 , GLOBALFOUNDRIES US INC.
发明人: 拉哈凡 拉蜜西 , RAGHAVAN, RAMESH , 亞拉曼 巴拉 , JAYARAMAN, BALAJI , 夫拉拉哈凡 詹奇拉曼 , VIRARAGHAVAN, JANAKIRAMAN , 奇潘納 斯亞 , KEMPANNA, THEJAS , 川莫爾 拉傑斯 瑞迪 , TUMMURU, RAJESH REDDY , 桐畑外志昭 , KIRIHATA, TOSHIAKI
CPC分类号: G11C5/06 , G11C5/063 , G11C5/14 , G11C5/147 , G11C7/06 , G11C7/062 , G11C7/1012 , G11C7/12 , G11C7/18 , G11C11/5621 , G11C11/5628 , G11C11/5642 , G11C16/08 , G11C16/10 , G11C16/24 , G11C16/28 , G11C2207/002 , G11C2211/4013
摘要: 本發明提供一種多次可程式設計記憶體(MTPM)記憶體單元及其操作方法。各MTPM位元單元包括:第一FET電晶體與第二FET電晶體具有第一共同連接,且第二FET電晶體與第三FET電晶體具有第二共同連接,第一與第二相連的FET電晶體可程式設計以儲存第一位元值,且第二FET與第三相連的FET電晶體可程式設計以儲存第二位元值,其中,第一FET電晶體呈現低閾值電壓值(LVT),第二FET電晶體呈現高閾值電壓值HVT以及第三FET電晶體呈現低於HVT的閾值LVT。MTPM單元使兩位元資訊能夠被儲存為類似電熔絲的默認位元值。為儲存相反的位元值,程式設計LVT電晶體以使其閾值高於HVT的閾值。
简体摘要: 本发明提供一种多次可编程内存(MTPM)内存单元及其操作方法。各MTPM比特单元包括:第一FET晶体管与第二FET晶体管具有第一共同连接,且第二FET晶体管与第三FET晶体管具有第二共同连接,第一与第二相连的FET晶体管可编程以存储第一比特值,且第二FET与第三相连的FET晶体管可编程以存储第二比特值,其中,第一FET晶体管呈现低阈值电压值(LVT),第二FET晶体管呈现高阈值电压值HVT以及第三FET晶体管呈现低于HVT的阈值LVT。MTPM单元使两比特信息能够被存储为类似电熔丝的默认比特值。为存储相反的比特值,编程LVT晶体管以使其阈值高于HVT的阈值。
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