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    積體電路插座
    3.
    发明专利
    積體電路插座 审中-公开
    集成电路插座

    公开(公告)号：TW202011031A

    公开(公告)日：2020-03-16

    申请号：TW107131761

    申请日：2018-09-10

    申请人： 范劉文玲 ,  范植昇 ,  范植宇

    发明人： 范偉芳

    IPC分类号： G01R1/04 ,  G01R31/28

    摘要： 本發明提出一種積體電路插座，係應用於積體電路測試，包含一蓋體、一座體及複數探針。蓋體供以裝設一積體電路並包含一工作區、複數第一探針孔及至少一檢測印刷電路。工作區設於蓋體中心，第一探針孔分設於工作區。檢測印刷電路設於蓋體下表面且延伸至至少一第一探針孔周緣。座體與蓋體相互組設並供以裝設於一積體電路測試板，座體具相對第一探針孔設置之複數第二探針孔。探針穿設於第一探針孔及第二探針孔，至少一探針電性連接檢測印刷電路，以電性導通積體電路、檢測印刷電路及積體電路測試板，藉此可增進該積體電路之測試效能與準確度。

    简体摘要： 本发明提出一种集成电路插座，系应用于集成电路测试，包含一盖体、一座体及复数探针。盖体供以装设一集成电路并包含一工作区、复数第一探针孔及至少一检测印刷电路。工作区设于盖体中心，第一探针孔分设于工作区。检测印刷电路设于盖体下表面且延伸至至少一第一探针孔周缘。座体与盖体相互组设并供以装设于一集成电路测试板，座体具相对第一探针孔设置之复数第二探针孔。探针穿设于第一探针孔及第二探针孔，至少一探针电性连接检测印刷电路，以电性导通集成电路、检测印刷电路及集成电路测试板，借此可增进该集成电路之测试性能与准确度。