公开(公告)号：US07480605B2

公开(公告)日：2009-01-20

申请号：US11037531

申请日：2005-01-18

申请人： Matthew Stephen Angyal ,  Alina Deutsch ,  Ibrahim M. Elfadel ,  Zhichao Zhang

发明人： Matthew Stephen Angyal ,  Alina Deutsch ,  Ibrahim M. Elfadel ,  Zhichao Zhang

IPC分类号： G06F17/50

CPC分类号： G06F17/5036

摘要： Techniques are disclosed for determination of parameter variability for one or more given interconnects of a plurality of interconnects in a simulated semiconductor circuit. The simulated semiconductor circuit is defined at least in part by a plurality of input parameters. From a distribution of first values of a given input parameter, a plurality of the first values are determined to use when calculating a corresponding plurality of second values for each of one or more output parameters. By using at least the determined plurality of first values for the given input parameter and selected values for other input parameters in the plurality of input parameters, the corresponding plurality of second values are calculated for each of the one or more output parameters. The one or more output parameters correspond to the one or more given interconnects. Each of the second values corresponds to one of the determined plurality of first values.

摘要翻译： 公开了用于确定模拟半导体电路中的多个互连的一个或多个给定互连件的参数变化性的技术。 模拟半导体电路至少部分地由多个输入参数定义。 根据给定输入参数的第一值的分布，当为一个或多个输出参数中的每一个计算相应的多个第二值时，确定多个第一值。 通过对于给定的输入参数至少使用所确定的多个第一值和对于多个输入参数中的其他输入参数的选择值，对于一个或多个输出参数中的每一个计算相应的多个第二值。 一个或多个输出参数对应于一个或多个给定互连。 每个第二值对应于所确定的多个第一值中的一个。

公开(公告)号：US20080221849A1

公开(公告)日：2008-09-11

申请号：US11684124

申请日：2007-03-09

申请人： Matthew Stephen Angyal ,  Ibrahim M. Elfadel ,  Yidnek Mekonnen

发明人： Matthew Stephen Angyal ,  Ibrahim M. Elfadel ,  Yidnek Mekonnen

IPC分类号： G06F17/50

CPC分类号： G06F17/5009 ,  G06F2217/10

摘要： Disclosed herein are methods and apparatus that automatically generate an electric circuit model from process parameters used to specify a semiconductor fabrication procedure, wherein at least one of the process parameters is specified as a statistical distribution. The methods and apparatus convert the process parameters into an electric circuit model. The electric circuit model is specified in terms of electric parameters, wherein at least one of the electric parameters is specified in terms of a statistical distribution. The methods and apparatus thus allow a process engineer whose expertise may not extend to state-of-the-art circuit modeling to develop insight into the effect of process parameter selection on the performance of the resulting electric circuit. The resulting insight is further enhanced since at least one of the electric parameters is specified in terms of a statistical distribution.

摘要翻译： 这里公开的是根据用于指定半导体制造程序的工艺参数自动生成电路模型的方法和装置，其中至少一个工艺参数被指定为统计分布。 方法和装置将工艺参数转换为电路模型。 该电路模型根据电参数来指定，其中至少一个电参数是根据统计分布来规定的。 因此，这些方法和装置允许其专业知识不能扩展到最先进的电路建模的过程工程师，以开发对过程参数选择对所得电路的性能的影响的深入了解。 所得到的洞察力被进一步增强，因为根据统计分布来指定至少一个电参数。