公开(公告)号：US20160306481A1

公开(公告)日：2016-10-20

申请号：US15032038

申请日：2014-10-28

Applicant: APPLE INC.

Inventor： Sinan Filiz ,  Brian Q. Huppi ,  Christopher J. Butler ,  Martin P. Grunthaner ,  Shahrooz Shahpamia ,  Sunggu Kang ,  Kai Wang

IPC: G06F3/041 ,  H03K17/96 ,  G06F3/044

CPC classification number: G06F3/0414 ,  G01L1/144 ,  G01L1/146 ,  G01L1/16 ,  G06F3/0416 ,  G06F3/044 ,  G06F2203/04106 ,  H01L41/1132 ,  H03K17/962 ,  H03K17/964 ,  H03K17/9643 ,  H03K2017/9602 ,  H03K2217/96031 ,  H03K2217/960735 ,  H03K2217/960755

Abstract: Systems for detecting an amount and/or location of a force applied to a device using a piezoelectric film are provided. One example system can include a transparent piezoelectric film for generating an electric charge in response to a deformation of the film. Electrodes positioned on opposite surfaces of the piezoelectric film can be used to detect the generated electric charge and determine an amount and/or location of force applied to the film based on the generated electric charge. In another embodiment, the system can include a capacitive touch sensor for determining a location of a touch event on the device.

Abstract translation: 提供了用于检测施加到使用压电膜的装置的力的量和/或位置的系统。 一个示例性系统可以包括用于响应于膜的变形而产生电荷的透明压电膜。 可以使用位于压电膜的相对表面上的电极来检测所产生的电荷，并且基于产生的电荷确定施加到膜的力的量和/或位置。 在另一个实施例中，系统可以包括用于确定设备上的触摸事件的位置的电容式触摸传感器。