公开(公告)号：US06268718B1

公开(公告)日：2001-07-31

申请号：US09401390

申请日：1999-09-22

申请人： Jens Lüpke ,  Frank Weber ,  Joseph Sillup

发明人： Jens Lüpke ,  Frank Weber ,  Joseph Sillup

IPC分类号： G01R3128

CPC分类号： G11C29/48 ,  G01R31/31905 ,  G11C29/56 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

摘要： The burn-in test device has a multiplicity of test receptacles (101, 102, 103, 104 . . . ) in a test board for receiving semiconductor memories. The test board is wired alternately in such a way that burn-in pulses can be applied to the semiconductor modules in dependence on its organization, with the result that the burn-in pulses are applied in each case to the total number of input/output lines.

摘要翻译： 老化测试装置在用于接收半导体存储器的测试板中具有多个测试插座（101,102,103,104 ...）。 测试板交替地布线，使得可以根据其组织将老化脉冲施加到半导体模块，结果是在每种情况下将老化脉冲施加到输入/输出的总数 线条。

公开(公告)号：US06292008B1

公开(公告)日：2001-09-18

申请号：US09322717

申请日：1999-05-28

申请人： Joseph Sillup ,  Frank Weber

发明人： Joseph Sillup ,  Frank Weber

IPC分类号： G01R3126

CPC分类号： G01R31/318572

摘要： A burn-in system uses a board for testing modules disposed like a matrix in the board. A circuit configuration includes module terminals for the modules in the board. Input/output channels are each connected to a respective one of the module terminals. Diodes are each connected to a respective one of the input/output channels. A scan signal terminal is connected to the diodes for activating the module terminals in groups with scan signals.

摘要翻译： 老化系统使用板来测试板上放置的矩阵。 电路配置包括板上模块的模块端子。 输入/输出通道各自连接到相应的一个模块端子。 二极管各自连接到相应的一个输入/输出通道。 扫描信号端子连接到二极管，用于以扫描信号分组激活模块端子。