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    Semiconductor integrated circuit and method for testing memory
    1.
    发明授权
    Semiconductor integrated circuit and method for testing memory 有权
    半导体集成电路及其测试方法

    公开(公告)号：US06233182B1

    公开(公告)日：2001-05-15

    申请号：US09403104

    申请日：1999-12-15

    申请人： Masayuki Satou ,  Isao Shimizu ,  Hiroshi Fukiage

    发明人： Masayuki Satou ,  Isao Shimizu ,  Hiroshi Fukiage

    IPC分类号： G11C700

    CPC分类号： G11C29/36 ,  G11C29/006 ,  G11C29/16

    摘要： A test circuit comprised of a microprogram controlled control unit for generating a test pattern (addresses and data) for each memory in accordance with a predetermined algorithm and reading written data, an arithmetic unit, and data determining means for determining the read data and outputting the result of determination is provided over a semiconductor chip equipped with a memory

    摘要翻译： 一种测试电路，包括微程序控制控制单元，用于根据预定算法产生每个存储器的测试图案（地址和数据）并读取写入数据，运算单元和数据确定装置，用于确定读取的数据并输出 在配备有存储器的半导体芯片上提供确定结果

    Semiconductor integrated circuit and method of checking memory
    2.
    发明授权
    Semiconductor integrated circuit and method of checking memory 失效
    半导体集成电路和检查存储器的方法

    公开(公告)号：US06467056B1

    公开(公告)日：2002-10-15

    申请号：US09461401

    申请日：1999-12-15

    申请人： Masayuki Satou ,  Isao Shimizu ,  Hiroshi Fukiage

    发明人： Masayuki Satou ,  Isao Shimizu ,  Hiroshi Fukiage

    IPC分类号： G11C2900

    CPC分类号： G11C29/36 ,  G11C29/006 ,  G11C29/16

    摘要： A test circuit comprised of a microprogram controlled control unit for generating a test pattern (addresses and data) for each memory in accordance with a predetermined algorithm and reading written data, an arithmetic unit, and data determining means for determinating the read data and outputting the result of determination is provided over a semiconductor chip equipped with a memory.

    摘要翻译： 一种测试电路，包括微程序控制控制单元，用于根据预定算法产生每个存储器的测试图案（地址和数据）并读取写入的数据，算术单元和数据确定装置，用于确定读取的数据并输出 在配备有存储器的半导体芯片上提供确定结果。