公开(公告)号：US20160299189A1

公开(公告)日：2016-10-13

申请号：US15038617

申请日：2013-11-28

申请人： TELEFONAKTIEBOLAGET LM ERICSSON (PUBL)

发明人： Göran SELANDER ,  Mats NÄSLUND ,  Elena DUBROVA

IPC分类号： G01R31/317 ,  G11C29/02 ,  G01R31/3177 ,  G11C19/28

CPC分类号： G01R31/31703 ,  G01R31/31723 ,  G01R31/3177 ,  G01R31/31813 ,  G01R31/318547 ,  G11C19/28 ,  G11C29/02 ,  G11C29/021

摘要： A Feedback Shift-Register (FSR) enabling improved testing, e.g., Built-In Self-Tests (BIST), is provided. Each cell of the FSR may either be an observable cell, associated with a non-trivial feedback function implemented by a combinational logic circuit, or a controllable cell, having an associated state variable which belongs to the dependence set of exactly one of the non-trivial feedback functions. Each controllable cell is provided with a multiplexer for selecting either a predecessor cell of the controllable cell or a test value as input. Thus, the sequential circuit of the FSR may be tested using tests for combinational logic. The disclosed test procedures utilize a minimal set of test vectors and allow detection of all single stuck-at faults in the FSR. This may not increase the propagation delay of the original design, and the resulting dynamic power dissipation during test can be considerably less than known BIST designs.

摘要翻译： 提供了一种能够改进测试的反馈移位寄存器（FSR），例如内置自检（BIST）。 FSR的每个单元可以是可观察的单元，其与由组合逻辑电路实现的非平凡的反馈功能相关联，或者具有相关联的状态变量的可控单元， 微不足道的反馈功能。 每个可控单元设置有用于选择可控单元的前导单元或测试值作为输入的多路复用器。 因此，可以使用用于组合逻辑的测试来测试FSR的顺序电路。 所公开的测试程序使用最小的一组测试向量，并允许检测FSR中所有单个卡住的故障。 这可能不会增加原始设计的传播延迟，并且测试期间产生的动态功耗可能远远低于已知的BIST设计。