公开(公告)号：US20130065489A1

公开(公告)日：2013-03-14

申请号：US13634069

申请日：2011-03-03

Applicant: Xavier Bultez ,  Benoît Callier ,  José De Barros ,  Eric Gacoin ,  Alexandre Gourraud

Inventor： Xavier Bultez ,  Benoît Callier ,  José De Barros ,  Eric Gacoin ,  Alexandre Gourraud

IPC: B24B13/06 ,  B24B49/00

CPC classification number: B24B13/0012 ,  B24B13/06 ,  B24B49/00

Abstract: The invention concerns a process for measuring and/or controlling a polishing process of an ophthalmic element (1) comprising the steps of manufacturing at least two cavities (2, 3) on the surface of the element to be polished, the depth of the first cavity (2) being smaller than the depth of the second cavity (3) operating the polishing process considering the element (1), in order to check that the first cavity (2) is suppressed and that the second cavity (3) is present.

Abstract translation: 本发明涉及一种用于测量和/或控制眼科元件（1）的抛光工艺的方法，包括以下步骤：在待抛光元件的表面上制造至少两个空腔（2,3），第一 考虑到元件（1），空腔（2）小于操作抛光工艺的第二腔（3）的深度，以便检查第一空腔（2）是否受到抑制，并且第二腔（3）存在 。