公开(公告)号：US07496474B2

公开(公告)日：2009-02-24

申请号：US11280639

申请日：2005-11-16

申请人： Adam S. Browen ,  Craig Chafin ,  Jeffery K. Whitt ,  Steve A. Olson

发明人： Adam S. Browen ,  Craig Chafin ,  Jeffery K. Whitt ,  Steve A. Olson

IPC分类号： G06F11/30 ,  G21C17/00

CPC分类号： G01R31/3177

摘要： An apparatus and a method for analyzing signals within an integrated circuit are described. In one embodiment of the present invention, internal IC signals are tapped, sampled and stored according to one or more sampling criteria. The signals may be taken from multiple locations within the IC and the information stored may include data, timing information, control data and other such information related to the tapped signals. The stored information may be provided to an external device for analysis.

摘要翻译： 描述用于分析集成电路内的信号的装置和方法。 在本发明的一个实施例中，根据一个或多个采样标准对内部IC信号进行抽头抽样和存储。 信号可以从IC内的多个位置取出，并且所存储的信息可以包括数据，定时信息，控制数据以及其他这样的信号。 存储的信息可以被提供给外部设备用于分析。