公开(公告)号：US07859918B1

公开(公告)日：2010-12-28

申请号：US12577502

申请日：2009-10-12

申请人： Leon L. Nguyen ,  Martin L. Voogel

发明人： Leon L. Nguyen ,  Martin L. Voogel

IPC分类号： G11C7/00

CPC分类号： G11C5/147 ,  G05F3/242

摘要： A method and apparatus is provided for the implementation of a measurement and adjustment mechanism within a semiconductor die that facilitates adjustment of the magnitude of voltage generated by one or more voltage reference generation circuits on the die. In a first embodiment, the output voltage magnitude of a bandgap reference circuit may be measured and adjusted. In a second embodiment, the output voltage magnitude of a voltage regulator circuit may be measured and adjusted. Programmable circuit elements, such as programmable resistors, may first be programmed during a configuration event of the die to determine the optimal configuration settings of the one or more voltage reference generation circuits. The optimal configuration settings are then used to program the state of one or more eFuses to maintain the optimal configuration settings for the duration of the semiconductor die's lifetime.

摘要翻译： 提供了一种用于实现半导体管芯内的测量和调节机构的方法和装置，其有助于调节由管芯上的一个或多个电压基准产生电路产生的电压的大小。 在第一实施例中，可以测量和调整带隙基准电路的输出电压幅度。 在第二实施例中，可以测量和调整电压调节器电路的输出电压幅值。 可编程电路元件（例如可编程电阻器）可以首先在芯片的配置事件期间被编程以确定一个或多个电压基准产生电路的最佳配置设置。 然后，最佳配置设置用于编程一个或多个eFuse的状态，以在半导体芯片的使用寿命期间保持最佳配置设置。