公开(公告)号：US07477784B2

公开(公告)日：2009-01-13

申请号：US11067948

申请日：2005-03-01

申请人： Jian Wang ,  Liyon Chen ,  Yihua Xu ,  Yingnong Dang ,  Zhouchen Lin

发明人： Jian Wang ,  Liyon Chen ,  Yihua Xu ,  Yingnong Dang ,  Zhouchen Lin

IPC分类号： G06K9/62 ,  G06K9/40

CPC分类号： G06K9/222

摘要： A method and apparatus for performing EIC pattern analysis is described. Pattern feature extraction is performed followed by EIC symbol segmentation. A system may later use the result from the pattern analysis to determine a location of a captured image in relation to a larger array of EIC symbols.

摘要翻译： 描述用于执行EIC模式分析的方法和装置。 执行模式特征提取，然后进行EIC符号分割。 系统可以稍后使用模式分析的结果来确定相对于较大数组EIC符号的捕获图像的位置。

公开(公告)号：US20060204101A1

公开(公告)日：2006-09-14

申请号：US11067948

申请日：2005-03-01

申请人： Jian Wang ,  Liyon Chen ,  Yihua Xu ,  Yingnong Dang ,  Zhouchen Lin

发明人： Jian Wang ,  Liyon Chen ,  Yihua Xu ,  Yingnong Dang ,  Zhouchen Lin

IPC分类号： G06K9/00 ,  G06K9/34 ,  G06K9/46

CPC分类号： G06K9/222

摘要： A method and apparatus for performing EIC pattern analysis is described. Pattern feature extraction is performed followed by EIC symbol segmentation. A system may later use the result from the pattern analysis to determine a location of a captured image in relation to a larger array of EIC symbols.