公开(公告)号：US08972206B2

公开(公告)日：2015-03-03

申请号：US13359262

申请日：2012-01-26

申请人： Chad Martin Shaffer ,  Peter Renzel ,  Jerome Poirier ,  Michael Maria Berke ,  Douglas Paul Lutz ,  Rai Mohan Dasarathan ,  Anandamurugan S

发明人： Chad Martin Shaffer ,  Peter Renzel ,  Jerome Poirier ,  Michael Maria Berke ,  Douglas Paul Lutz ,  Rai Mohan Dasarathan ,  Anandamurugan S

IPC分类号： G01B5/28 ,  G01N9/24

CPC分类号： G01N29/069 ,  G01N29/262 ,  G01N29/4463 ,  G01N2291/044 ,  G01N2291/2634

摘要： A system for use in determining a location of a defect in an object is provided. The system includes an ultrasonic phased array configured to provide a sector scan of the object, a display, and a processor. The processor is programmed to provide a volume-corrected view of a sector of an ultrasonic inspection of the object on the display, wherein the object has a first surface defined by a first radius and a second surface defined by a second radius that is shorter than the first radius, receive gate parameters of a gate used to measure a location of a reflection of a beam emitted from the ultrasonic phased array, wherein the reflection is indicative of a defect on the first surface or the second surface, and calculate a location of the defect using the gate.

摘要翻译： 提供了一种用于确定对象中的缺陷的位置的系统。 该系统包括被配置为提供对象的扇区扫描，显示器和处理器的超声相控阵。 处理器被编程为提供在显示器上对物体的超声波检查的扇区的体积校正视图，其中物体具有由第一半径限定的第一表面和由比第二半径短的第二半径限定的第二表面 第一半径，用于测量从超声相控阵列发射的光束的反射位置的栅极的接收栅极参数，其中反射指示第一表面或第二表面上的缺陷，并且计算位置 缺陷使用门。

公开(公告)号：US20130197822A1

公开(公告)日：2013-08-01

申请号：US13359262

申请日：2012-01-26

申请人： Chad Martin Shaffer ,  Peter Renzel ,  Jerome Poirier ,  Michael Maria Berke ,  Douglas Paul Lutz ,  Rai Mohan Dasarathan ,  Anandamurugan S

发明人： Chad Martin Shaffer ,  Peter Renzel ,  Jerome Poirier ,  Michael Maria Berke ,  Douglas Paul Lutz ,  Rai Mohan Dasarathan ,  Anandamurugan S

IPC分类号： G06F19/00

CPC分类号： G01N29/069 ,  G01N29/262 ,  G01N29/4463 ,  G01N2291/044 ,  G01N2291/2634

摘要： A system for use in determining a location of a defect in an object is provided. The system includes an ultrasonic phased array configured to provide a sector scan of the object, a display, and a processor. The processor is programmed to provide a volume-corrected view of a sector of an ultrasonic inspection of the object on the display, wherein the object has a first surface defined by a first radius and a second surface defined by a second radius that is shorter than the first radius, receive gate parameters of a gate used to measure a location of a reflection of a beam emitted from the ultrasonic phased array, wherein the reflection is indicative of a defect on the first surface or the second surface, and calculate a location of the defect using the gate.

摘要翻译： 提供了一种用于确定对象中的缺陷的位置的系统。 该系统包括被配置为提供对象的扇区扫描，显示器和处理器的超声相控阵。 处理器被编程为提供在显示器上对物体的超声波检查的扇区的体积校正视图，其中物体具有由第一半径限定的第一表面和由比第二半径短的第二半径限定的第二表面 第一半径，用于测量从超声相控阵列发射的光束的反射位置的栅极的接收栅极参数，其中反射指示第一表面或第二表面上的缺陷，并且计算位置 缺陷使用门。