公开(公告)号：US07168016B2

公开(公告)日：2007-01-23

申请号：US09823926

申请日：2001-03-30

申请人： Giovanni Campardo ,  Stefano Commodaro ,  Massimiliano Picca ,  Patrizia Mongelli

发明人： Giovanni Campardo ,  Stefano Commodaro ,  Massimiliano Picca ,  Patrizia Mongelli

IPC分类号： G11C29/00

CPC分类号： G11C29/56

摘要： A method and control device is used for testing electronic memory devices. The method comprises loading test data and/or instructions into a control logic circuit portion associated with a matrix array of memory cells and integrated storage circuitry. According to the invention, a test operation control device is used temporarily instead of the control logic, the test operation control device being external of and connected detachably to the memory device. Advantageously, the test operation control device is a matrix cell array external of the memory.

摘要翻译： 一种方法和控制装置用于测试电子存储器件。 该方法包括将测试数据和/或指令加载到与存储器单元和集成存储电路的矩阵阵列相关联的控制逻辑电路部分中。 根据本发明，临时使用测试操作控制装置而不是控制逻辑，测试操作控制装置可以拆卸地外部并连接到存储装置。 有利地，测试操作控制设备是存储器外部的矩阵单元阵列。