公开(公告)号：US20070075446A1

公开(公告)日：2007-04-05

申请号：US11540941

申请日：2006-09-28

申请人： Glenn Bushee ,  Sin Kwok ,  Li Zheng ,  Sanjay Varma

发明人： Glenn Bushee ,  Sin Kwok ,  Li Zheng ,  Sanjay Varma

IPC分类号： B01F3/04

CPC分类号： F24F6/00 ,  F24F2006/008

摘要： A freestanding humidifier is provided with a movable base tray which is adapted to slide into and out of the bottom rear portion of the humidifier housing. The base tray is contoured to receive a pair of large volume water tanks which can be easily removed, refilled and reinstalled on the base tray. A large diameter fan is mounted in the humidifier and positioned to exhaust air in a substantially horizontal flow path from the humidifier into the ambient surroundings.

摘要翻译： 独立式加湿器设置有可移动的底盘，其适于滑入和离开加湿器壳体的底部后部。 基座托盘的形状可以接收一对大容积的水箱，可以方便地将其卸下，重新填充并重新安装在底盘上。 大直径风扇安装在加湿器中并且定位成将空气从基本上水平的流动路径中从加湿器排放到周围环境中。

公开(公告)号：US08724408B2

公开(公告)日：2014-05-13

申请号：US13306617

申请日：2011-11-29

申请人： Lawrence Wai Cheung Ho ,  Eric Sin Kwok Chiu

发明人： Lawrence Wai Cheung Ho ,  Eric Sin Kwok Chiu

IPC分类号： G11C7/00

CPC分类号： G11C29/00 ,  G11C5/04 ,  G11C29/44 ,  G11C29/76 ,  G11C2029/4402

摘要： Embodiments described herein relate to systems and methods for testing and assembling memory modules. In at least one embodiment, the method comprises, for each memory device of a plurality of memory devices, based on testing performed on the memory device, determining whether the memory device has any defective memory locations, and if so, identifying the one or more defective memory locations, and generating data that identifies the one or more defective memory locations on the memory device; and assembling a memory module comprising at least one memory device having one or more defective memory locations; wherein the assembling comprises, for each memory device of the memory module having one or more defective memory locations, storing the data that identifies the one or more defective memory locations on the memory device in a persistent store on the memory module.

摘要翻译： 本文描述的实施例涉及用于测试和组装存储器模块的系统和方法。 在至少一个实施例中，该方法包括对于多个存储器设备中的每个存储设备，基于对存储器设备执行的测试，确定存储器设备是否具有任何缺陷存储器位置，如果是，则识别该一个或多个 并且产生识别存储器设备上的一个或多个有缺陷的存储器位置的数据; 以及组装包括具有一个或多个缺陷存储器位置的至少一个存储器件的存储器模块; 其中，对于具有一个或多个缺陷存储器位置的存储器模块的每个存储器件，组装包括将存储器设备中的一个或多个缺陷存储器位置的数据存储在存储器模块上的持久存储器中。

公开(公告)号：US20130135951A1

公开(公告)日：2013-05-30

申请号：US13306617

申请日：2011-11-29

申请人： Lawrence Wai Cheung HO ,  Eric Sin Kwok CHIU

发明人： Lawrence Wai Cheung HO ,  Eric Sin Kwok CHIU

IPC分类号： G11C29/00

CPC分类号： G11C29/00 ,  G11C5/04 ,  G11C29/44 ,  G11C29/76 ,  G11C2029/4402

摘要： Embodiments described herein relate to systems and methods for testing and assembling memory modules. In at least one embodiment, the method comprises, for each memory device of a plurality of memory devices, based on testing performed on the memory device, determining whether the memory device has any defective memory locations, and if so, identifying the one or more defective memory locations, and generating data that identifies the one or more defective memory locations on the memory device; and assembling a memory module comprising at least one memory device having one or more defective memory locations; wherein the assembling comprises, for each memory device of the memory module having one or more defective memory locations, storing the data that identifies the one or more defective memory locations on the memory device in a persistent store on the memory module.

摘要翻译： 本文描述的实施例涉及用于测试和组装存储器模块的系统和方法。 在至少一个实施例中，该方法包括对于多个存储器设备中的每个存储设备，基于对存储器设备执行的测试，确定存储器设备是否具有任何缺陷存储器位置，如果是，则识别该一个或多个 并且产生识别存储器设备上的一个或多个有缺陷的存储器位置的数据; 以及组装包括具有一个或多个缺陷存储器位置的至少一个存储器件的存储器模块; 其中，对于具有一个或多个缺陷存储器位置的存储器模块的每个存储器件，组装包括将存储器设备中的一个或多个缺陷存储器位置的数据存储在存储器模块上的持久存储器中。