公开(公告)号：US5235399A

公开(公告)日：1993-08-10

申请号：US719945

申请日：1991-06-24

申请人： Tatehito Usui ,  Tomoji Watanabe ,  Junichi Kobayashi ,  Takehiko Ooshima ,  Shunji Sasabe

发明人： Tatehito Usui ,  Tomoji Watanabe ,  Junichi Kobayashi ,  Takehiko Ooshima ,  Shunji Sasabe

IPC分类号： G01J5/10 ,  G01J5/00 ,  G01J5/06 ,  G01J5/60 ,  H05H1/00

CPC分类号： G01J5/0014 ,  G01J5/0018 ,  G01J5/06 ,  G01J5/08 ,  G01J5/0806 ,  G01J5/0825 ,  G01J5/602

摘要： An apparatus for measuring the temperature of an object placed in a plasma by utilizing radiation includes measuring means for measuring the intensity of radiation from the object and the intensity of plasma light in different directions at the same time. The measuring means includes a first lens for receiving the radiation from the object and the plasma light, a second lens for converting the output beam of the first lens into parallel light rays, a third lens for focusing the parallel light rays, and an interference filter disposed rotatably between the second lens and the third lens.

摘要翻译： 用于通过利用辐射来测量放置在等离子体中的物体的温度的装置包括用于同时测量来自物体的辐射强度和等离子体光的强度的测量装置。 测量装置包括用于接收来自物体和等离子体光的辐射的第一透镜，用于将第一透镜的输出光束转换为平行光线的第二透镜，用于聚焦平行光线的第三透镜和用于聚焦平行光线的干涉滤光器 可旋转地设置在第二透镜和第三透镜之间。