公开(公告)号：US20050057230A1

公开(公告)日：2005-03-17

申请号：US10710861

申请日：2004-08-09

申请人： Anindya SAHA ,  Vivek PAWAR ,  Sudheer PRASAD ,  Anmol SHARMA ,  Suresh PUTHUCODE

发明人： Anindya SAHA ,  Vivek PAWAR ,  Sudheer PRASAD ,  Anmol SHARMA ,  Suresh PUTHUCODE

IPC分类号： G05F1/46 ,  G05F1/575 ,  G05F3/02

CPC分类号： G06F1/26 ,  G11C5/06

摘要： A characteristic is measured on multiple portions of an integrated circuit, and the supply voltage adjusted based on the measurements. In an embodiment, the characteristic corresponds to propagation delay which indicates whether the integrated circuit is implemented with a strong, weak or nominal process corner. In general, the supply voltage can be increased in the case of a weak process corner and decreased in the case of a strong process corner.

摘要翻译： 在集成电路的多个部分上测量特性，并且基于测量调整电源电压。 在一个实施例中，特性对应于传播延迟，其指示集成电路是用强的，弱的还是标称的工艺角来实现的。 通常，在过程拐角较弱的情况下，电源电压可以增加，而在过程拐角较强的情况下，电源电压可以提高。