公开(公告)号：US06505324B1

公开(公告)日：2003-01-07

申请号：US09680340

申请日：2000-10-05

申请人： Bruce Cowan ,  Frank O. Distler ,  Mark F. Ollive ,  Michael R. Ouellette ,  Jeannie H. Panner ,  Dora R. Pealer ,  Bruce D. Raymond ,  Paul S. Zuchowski

发明人： Bruce Cowan ,  Frank O. Distler ,  Mark F. Ollive ,  Michael R. Ouellette ,  Jeannie H. Panner ,  Dora R. Pealer ,  Bruce D. Raymond ,  Paul S. Zuchowski

IPC分类号： G06F1750

CPC分类号： G11C29/72 ,  G11C17/16 ,  G11C17/18 ,  G11C29/027 ,  G11C29/56 ,  G11C2029/5604 ,  G11C2029/5606

摘要： It is, therefore, an object of the present invention to provide a structure and method of blowing fuses in a semiconductor chip that includes creating a design for the chip using a library, generating test data from the design, extracting the fuse related information from the design to prepare a fuse blow table, building the chip with the design data, testing the chip to produce failed data, comparing the fuse blow table to the failed data to determine the fuse blow location data, and blowing the selected fuses based on the fuse blow location data. The extraction method can include creating a fuse map file based upon a correlation between physical pin locations on the chip and different fuse macros within the design, wherein an order of fuses within the fuse blow table matches an order of fuses within the fuse map file.

摘要翻译： 因此，本发明的目的是提供一种在半导体芯片中熔断熔丝的结构和方法，该结构和方法包括使用库创建芯片的设计，从设计中产生测试数据，从熔丝相关信息中提取熔丝相关信息 设计准备保险丝打火台，用设计数据构建芯片，测试芯片产生故障数据，比较保险丝熔断台与故障数据，确定保险丝熔断位置数据，并根据保险丝吹送选定的保险丝 吹打位置数据。 提取方法可以包括基于芯片上的物理引脚位置与设计中的不同熔丝宏之间的相关性来创建熔丝图文件，其中保险丝熔断台内的保险丝顺序与熔丝映射文件内的熔丝顺序匹配。