公开(公告)号：US08111404B2

公开(公告)日：2012-02-07

申请号：US12616262

申请日：2009-11-11

申请人： Cheng-Fu Chen ,  Chien-Chou Chen ,  Yu-Fong Tseng

发明人： Cheng-Fu Chen ,  Chien-Chou Chen ,  Yu-Fong Tseng

IPC分类号： G01B9/02

CPC分类号： G03H1/0248 ,  G03H1/02 ,  G03H2001/0264 ,  G03H2001/0268 ,  G03H2240/53 ,  G11C13/042

摘要： A method for measuring a saturated photorefractive index and a recording time constant to correct the precision includes measuring the diffraction efficiency as a function of time for both phase matching and phase mismatching. The saturated photorefractive index and the recording time constant are verified by substitution into a theoretical formula derived from the Coupled Wave Theory. Thus, the method allows a precise determination of the dynamic range of volume holographic memories and thus their storage capacities. The same procedure can also apply to photopolymers.

摘要翻译： 用于测量饱和光折射率和记录时间常数以校正精度的方法包括测量作为相位匹配和相位失配两者的时间的函数的衍射效率。 饱和光折射率和记录时间常数通过代入耦合波理论得到的理论公式进行验证。 因此，该方法允许精确地确定体积全息存储器的动态范围以及因此其存储容量。 同样的程序也可以应用于光聚合物。

公开(公告)号：US20100123902A1

公开(公告)日：2010-05-20

申请号：US12616262

申请日：2009-11-11

申请人： Cheng-Fu Chen ,  Chien-Chou Chen ,  Yu-Fong Tseng

发明人： Cheng-Fu Chen ,  Chien-Chou Chen ,  Yu-Fong Tseng

IPC分类号： G01B9/02

CPC分类号： G03H1/0248 ,  G03H1/02 ,  G03H2001/0264 ,  G03H2001/0268 ,  G03H2240/53 ,  G11C13/042

摘要： A method for measuring a saturated photorefractive index and a recording time constant to correct the precision includes measuring the diffraction efficiency as a function of time for both phase matching and phase mismatching. The saturated photorefractive index and the recording time constant are verified by substitution into a theoretical formula derived from the Coupled Wave Theory. Thus, the method allows a precise determination of the dynamic range of volume holographic memories and thus their storage capacities. The same procedure can also apply to photopolymers.

摘要翻译： 用于测量饱和光折射率和记录时间常数以校正精度的方法包括测量作为相位匹配和相位失配两者的时间的函数的衍射效率。 饱和光折射率和记录时间常数通过代入耦合波理论得到的理论公式进行验证。 因此，该方法允许精确地确定体积全息存储器的动态范围以及因此其存储容量。 同样的程序也可以应用于光聚合物。