公开(公告)号：US07928882B2

公开(公告)日：2011-04-19

申请号：US11720190

申请日：2005-11-07

申请人： Hendricus J M Veendrick ,  Marcel Pelgrom ,  Violeta Petrescu

发明人： Hendricus J M Veendrick ,  Marcel Pelgrom ,  Violeta Petrescu

IPC分类号： H03M1/12 ,  H03M1/34

CPC分类号： G01R31/31723 ,  G01R31/317

摘要： An integrated circuit comprises a plurality of sensing circuits (12), each for detecting whether a respective physical operating parameter is above or below a respective reference value. The integrated circuit contains a serial shift register (11) for shifting digital data signals that represent the respective reference values from a successive approximation update circuit (14) to the sensing circuits (12) and back to the successive approximation update circuit (14). Detection results of the sensing circuits (12) are shifted to the successive approximation update circuit (14) with the digital data signals. The successive approximation update circuit (14) is used to form the digital data so that the reference values form successive approximations of the physical operating parameter values during an analog to digital conversion process. In this way the successive approximation update circuit (14) is shared by a plurality of sensing circuits (12).

摘要翻译： 集成电路包括多个检测电路（12），每个检测电路用于检测相应的物理操作参数是否高于或低于相应的参考值。 集成电路包含用于将表示来自逐次逼近更新电路（14）的各个参考值的数字数据信号移位到感测电路（12）并返回到逐次逼近更新电路（14）的串行移位寄存器（11）。 感测电路（12）的检测结果用数字数据信号转移到逐次逼近更新电路（14）。 逐次逼近更新电路（14）用于形成数字数据，使得参考值在模数转换过程期间形成物理操作参数值的逐次逼近。 以这种方式，逐次逼近更新电路（14）由多个感测电路（12）共享。

公开(公告)号：US07710136B2

公开(公告)日：2010-05-04

申请号：US11720317

申请日：2005-11-23

申请人： Marcel Pelgrom ,  Hendricus J M Veendrick

发明人： Marcel Pelgrom ,  Hendricus J M Veendrick

IPC分类号： G01R31/02

CPC分类号： G01R31/318536 ,  G01R31/3167

摘要： An integrated circuit (1) comprises a monitor (M1, M3, M3) operable to produce monitor data in dependence upon a measured parameter of the integrated circuit (1); and a self test controller (28) connected to receive monitor data from the monitor (M1, M2, M3). The self-test controller is also operable to output self test data from the integrated circuit. The monitor includes an output shift register (SR1, SR2, SR3) and is operable to output monitor data through the shift register (SR1, SR2, SR3). Such a system enables simplified communication of system self test results on an integrated circuit.

摘要翻译： 集成电路（1）包括可根据集成电路（1）的测量参数产生监视数据的监视器（M1，M3，M3）。 以及连接以从监视器（M1，M2，M3）接收监视数据的自检控制器（28）。 自检控制器还可以从集成电路输出自检数据。 监视器包括输出移位寄存器（SR1，SR2，SR3），并且可操作以通过移位寄存器（SR1，SR2，SR3）输出监视数据。 这样的系统能够简化集成电路系统自检结果的通信。