公开(公告)号：US1479619A

公开(公告)日：1924-01-01

申请号：US59142122

申请日：1922-09-29

申请人： JOSE MARTINEZ

发明人： JOSE MARTINEZ

IPC分类号： F04D25/08

CPC分类号： F04D25/086

公开(公告)号：US1418009A

公开(公告)日：1922-05-30

申请号：US45484121

申请日：1921-03-23

申请人： JOSE MARTINEZ

发明人： JOSE MARTINEZ

IPC分类号： H01T13/46

CPC分类号： H01T13/467

公开(公告)号：US20110191055A1

公开(公告)日：2011-08-04

申请号：US12696902

申请日：2010-01-29

申请人： JOSE MARTINEZ ,  Chandramouli Visweswariah ,  Francis Woytowich ,  Jinjun Xiong

发明人： JOSE MARTINEZ ,  Chandramouli Visweswariah ,  Francis Woytowich ,  Jinjun Xiong

IPC分类号： G06F19/00 ,  G01R31/00 ,  G06F17/18

CPC分类号： G01R31/00 ,  G06F17/18 ,  G06F19/00

摘要： In one embodiment, the invention is a method and apparatus for selecting voltage and frequency levels for use in at-speed testing. One embodiment of a method for selecting a set of test conditions with which to test an integrated circuit chip includes formulating a statistical optimization problem and obtaining a solution to the statistical optimization problem, where the solution is the set of test conditions.

摘要翻译： 在一个实施例中，本发明是用于选择在速度测试中使用的电压和频率水平的方法和装置。 用于选择用于测试集成电路芯片的一组测试条件的方法的一个实施例包括制定统计优化问题并获得统计优化问题的解决方案，其中解是测试条件集合。